產品概述

核心特點

• 常溫無損測量：無需加熱樣品，在 10–40℃室溫下即可測量，避免高溫導致材料變性，適合高分子、薄膜等熱敏材料。

• 高精度與寬范圍：放射率測量范圍覆蓋 0.01–1.00，精度達 ±0.01，可精準分辨表面處理（如噴砂、陽極氧化）帶來的微小差異。

• 寬波段適配性：2–22μm 寬紅外波段，兼顧金屬（8–14μm）、塑料（3–5μm）等不同材料的紅外特征。

• 便攜易操作：主機與探頭分離式設計，探頭小巧便攜；數字顯示直觀，兩鍵式操作，無需專業(yè)培訓即可快速上手。

• 穩(wěn)定耐用：探頭防護等級達 IP54，具備抗電磁干擾能力，可適應核電、航天等嚴苛環(huán)境。

• 數據輸出靈活：提供 0–0.1V（高精度）與 0–1V（寬范圍）雙模擬輸出，可對接 PLC、數據采集卡及分析軟件。

日本JAPANSENSOR 常溫型紅外放射率測試儀

技術參數

• 型號：TSS-5X-3

• 品牌：JAPANSENSOR（日本）

• 測量原理：恒溫發(fā)射源紅外輻射反射能量探測法

• 測量范圍：放射率 ε=0.01–1.00

• 測量波長：2–22μm

• 測量精度：±0.01（滿量程）

• 測量面積：φ15mm

• 測量距離：12mm

• 響應時間：0.1 秒（0–63%）

• 顯示方式：數字顯示（2 位小數）

• 輸出信號：0–0.1V、0–1V 雙量程

• 使用溫度：10–40℃

• 探頭防護：IP54

應用場景

• 材料科學研發(fā)：測試金屬、陶瓷、高分子、涂層等材料的放射率，優(yōu)化表面處理工藝。

• 半導體與電子：晶圓、封裝材料、散熱涂層的熱輻射特性檢測。

• 航空航天：飛行器表面、隔熱材料、熱控涂層的發(fā)射率測量。

• 能源與冶金：高溫設備隔熱層、輻射加熱元件、節(jié)能材料性能評估。

• 工業(yè)質檢：生產線零部件表面處理一致性抽檢，紅外測溫儀發(fā)射率參數校準。

標準配置

• TSS-5X-3 主機

• 測量探頭（含連接線）

• 標準校正片（放射率 0.06、0.97）

• 便攜鋁合金箱

• 使用說明書