美國aztechnology 太陽反射率測量儀

TESA 2000（Total Emittance and Solar Absorptance）是 AZ Technology 與美國 NASA 航天中心聯(lián)合開發(fā)的便攜式發(fā)射率 / 太陽反射率二合一測量設(shè)備。集成紅外發(fā)射率與太陽光譜反射率雙測量模塊，一臺(tái)替代兩臺(tái)儀器，兼顧實(shí)驗(yàn)室高精度與現(xiàn)場便攜性，數(shù)據(jù)可追溯至 NASA 航天級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。

• 發(fā)射率測量（IR Emittance）

• 光譜范圍：＜3 μm ～ ＞35 μm（紅外全半球，無濾光片限制）

• 測量值：半球發(fā)射率 ε（法向 + 半球，室溫 300K）

• 精度：±1% FS（灰體）；±3% FS（非灰體）

• 重復(fù)性：≤±0.5% FS

• 太陽光譜反射率（Solar Reflectance）

• 光譜范圍：250 nm ～ 2500 nm（紫外 + 可見 + 近紅外，完整太陽光譜）

• 測量值：半球反射率 ρs → 太陽吸收率 αs=1?ρs

• 精度 / 重復(fù)性：同發(fā)射率指標(biāo)

• 物理與電氣規(guī)格

• 結(jié)構(gòu)：分體式（測量主機(jī) + 手持顯示單元）

• 主機(jī)尺寸：直徑 127 mm，高 150 mm；重量約 1.0 kg

• 供電：內(nèi)置可充電電池（續(xù)航約 8 小時(shí)）+ AC 適配器

• 接口：RS-232/USB，支持 PC 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與報(bào)告導(dǎo)出

• 樣品適配：平面≥1 cm；凸面≥2.5 cm；凹面≥16.5 cm

美國aztechnology 太陽反射率測量儀

• 二合一高效測量：單臺(tái)設(shè)備同步獲取發(fā)射率與太陽反射率，節(jié)省采購與使用成本。

• NASA 技術(shù)背書：航天級(jí)光學(xué)設(shè)計(jì)，替代停產(chǎn)的 Gier Dunkle DB-100，性能與可維護(hù)性更優(yōu)。

• 便攜適配強(qiáng)：輕量機(jī)身 + 電池供電，可手持貼合曲面測量，適配屋頂、光伏板、航天器涂層等現(xiàn)場場景。

• 穩(wěn)定低維護(hù)：光學(xué)系統(tǒng)免校準(zhǔn)漂移，長期重復(fù)性好，無需液氮 / 水冷，降低使用門檻。

4. 典型應(yīng)用場景

• 航空航天：衛(wèi)星 / 航天器熱控涂層、太陽吸收率與發(fā)射率匹配測試、隔熱 blanket 性能評(píng)估。

• 光伏新能源：光伏玻璃 / 背板、太陽能集熱器、吸熱涂層的反射率 / 吸收率檢測。

• 建筑節(jié)能：冷屋頂涂料、隔熱板材、保溫涂層的發(fā)射率與太陽反射率評(píng)估（LEED 認(rèn)證適用）。

• 工業(yè)涂層：耐高溫涂層、防腐涂層、紅外隱身涂層的質(zhì)量控制與均勻性檢測。

• 科研高校：材料光學(xué)熱性能實(shí)驗(yàn)、論文數(shù)據(jù)采集、教學(xué)演示設(shè)備。