XIM-05C450K 屬于日本 CCS XIM 系列微型同軸環(huán)形一體光源，集成同軸落射 + 低角度環(huán)形雙光路，專為微小元器件、芯片引腳、微型工件微距視覺檢測開發(fā)，自帶基礎(chǔ)偏振光學(xué)層，抑制微型鏡面反光，北崎國際貿(mào)易為原裝正規(guī)授權(quán)代理。

SERIC索萊克 人工照明儀 呼和浩特

• 復(fù)合雙光路結(jié)構(gòu)

• 中心垂直同軸落射光：捕捉微小平面劃痕、臟點(diǎn)、字符；

• 外圈 45° 低角度斜射環(huán)形光：凸顯微小凹凸、引腳毛刺、淺刻??；

  一套光源同時(shí)實(shí)現(xiàn)同軸 + 低角度兩種照明效果，無需更換工裝。

• 發(fā)光光譜：450nm 短波藍(lán)光，對透明塑膠、硅晶圓、透明薄膜雜質(zhì)對比度提升顯著，可過濾環(huán)境雜光干擾。

• 光學(xué)配置：機(jī)身內(nèi)置 C 系列起偏偏振片，中等反光微型金屬、硅片可直接弱化鏡面高光；超高拋光工件可搭配外置檢偏濾鏡實(shí)現(xiàn)正交消反光。

• 供電標(biāo)準(zhǔn)：DC24V 工業(yè)直流供電，全系列兼容 CCS PDD、PSB 光源控制器，支持無級調(diào)光、外部信號同步觸發(fā)。

• 機(jī)身結(jié)構(gòu)：超小型緊湊鋁合金防塵殼體，微型法蘭標(biāo)準(zhǔn)接口，直接鎖附 0.5 倍微距鏡頭、小型 C 口顯微鏡頭前端，不占用狹小檢測工位空間。

• 安裝規(guī)格：標(biāo)準(zhǔn)鏡頭前置卡扣式安裝，機(jī)身預(yù)留 M3 固定螺孔，適配臺式顯微鏡、微型自動(dòng)化檢測治具。

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• 同軸 + 低角度二合一復(fù)合光路，微型工件一站式檢測

  區(qū)別單獨(dú)同軸 / 單獨(dú)環(huán)形光源，XIM-05C450K 中心同軸光檢測平面瑕疵，外圈斜射光凸顯凹凸毛刺，一套光源滿足平面 + 輪廓兩類缺陷檢測，減少設(shè)備換型、簡化產(chǎn)線工裝。

• 450nm 短波藍(lán)光，透明 / 半導(dǎo)體工件缺陷增強(qiáng)

  短波藍(lán)光穿透力適中，透明塑膠、硅片、薄膜內(nèi)部微小顆粒、裂紋成像對比度遠(yuǎn)高于白光 / 紅光，可過濾車間環(huán)境白光雜光干擾，提升算法識別穩(wěn)定性。

• 內(nèi)置 C 偏振層，微型鏡面工件基礎(chǔ)消眩光

  一體集成起偏光學(xué)膜，芯片焊盤、微型金屬端子、拋光硅片定向鏡面反光被大幅弱化，微米級劃痕、氧化污點(diǎn)清晰顯現(xiàn)，無需額外加裝濾鏡，縮小微型工裝體積。

• 微型超緊湊機(jī)身，適配狹小微距檢測工位

  整體外徑尺寸小巧，專為 0.5 倍微距鏡頭配套設(shè)計(jì)，可嵌入臺式顯微鏡、微型自動(dòng)化拾取檢測工位，不干涉微小物料輸送軌跡。