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| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器類型 | 實(shí)驗(yàn)室型 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 傅立葉變換型(FT) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
| 型號 | Linza 2752 | 測量模式 | 透過率 |
| 波長范圍,nm | 2700-5200 | 波長掃描速度,nm/min | 3000(取樣間距5nm時(shí)) |
| 單色儀光學(xué)方案 | Czerny-Turner 光柵系統(tǒng) | 光學(xué)元件 | 鏡片:Al+MgF2,透鏡:CaF2 |
| 參考通道 | 具有參考通道 | 波長采樣間距,nm | 0.5-100 |
| 光斑尺寸,mm | 6.0×5.5 |
中紅外分光光度計(jì)-LINZA 2752系列
直測曲面透鏡,大容量樣品倉與滑動式探測器,中紅外快速檢測
中紅外分光光度計(jì)-LINZA 2752系列 2752 是為中波紅外(MWIR)波段設(shè)計(jì)的高性能分光光度計(jì),有效波長范圍覆蓋 2.7 μm–5.2 μm(2700–5200 nm),主要用于單枚透鏡及多透鏡組件(物鏡)的軸上透射測量。大多數(shù)光學(xué)元件均為透鏡,形狀涵蓋凸面、凹面、柱面和非球面等多種類型。透鏡在真空鍍膜室中完成鍍膜后,通常使用平面參考樣品來監(jiān)控工藝過程。然而曲面透鏡上的鍍膜特性往往與平面參考樣品存在偏差,這使得了解真實(shí)透鏡的透射率變得至關(guān)重要。以此行業(yè)難題為出發(fā)點(diǎn),LINZA 2752 的設(shè)計(jì)目標(biāo)是對實(shí)際曲面光學(xué)元件進(jìn)行直接測量,打破僅依賴平面參考樣品進(jìn)行性能評價(jià)的傳統(tǒng)局限。這款設(shè)備配備了寬敞的樣品倉和滑動式探測器模塊,能夠測量單枚透鏡直徑 10 mm 至 150 mm 的透鏡,以及端到端總長可達(dá) 680 mm 的完整透鏡組件(物鏡),涵蓋從透鏡鍍膜完成后到組件交付全線階段的光譜性能可追溯。該儀器主要應(yīng)用于單透鏡測量、多透鏡系統(tǒng)檢測、鍍膜基底評價(jià)以及紅外觀測、紅外傳感系統(tǒng)的性能驗(yàn)證,是光學(xué)制造生產(chǎn)線和產(chǎn)品出廠前檢驗(yàn)環(huán)節(jié)的理想工具,可顯著縮短生產(chǎn)節(jié)拍周期,提高質(zhì)檢效率。

規(guī)格參數(shù):
Linza2752分光光度計(jì) | |
參數(shù) | 描述 |
型號 | Linza 2752 |
光學(xué)配置 | |
測量模式 | 透過率 |
波長范圍,nm | 2700-5200 |
波長掃描速度,nm/min | 3000(取樣間距5nm時(shí)) |
單色儀光學(xué)方案 | Czerny-Turner 光柵系統(tǒng) |
光學(xué)元件 | 鏡片:Al+MgF2,透鏡:CaF2 |
參考通道 | 具有參考通道 |
波長采樣間距,nm | 0.5-100 |
光斑尺寸,mm | 6.0×5.5 |
光譜分辨率,nm | 2 |
波長精度,nm | 1 |
波長重復(fù)精度,nm | ±0.5 |
雜散光等級,%Max | 0.002 |
測試精度 | NRC NG11 SRM:±0.06Abs(0.13Abs); |
±0.0043Abs(0.49Abs);±0.0031Abs(0.82Abs);±0.002Abs(1.0Abs) | |
測試重復(fù)精度 | NRC NG11 SRM:±0.0033Abs(0.13Abs); |
±0.0028Abs(0.49Abs);±0.0012Abs(0.82Abs);±0.0011Abs(1.0Abs) | |
基線穩(wěn)定性,%/小時(shí) | ±0.3% |
光源 | 紅外光源 |
樣品倉 | |
鏡片、鏡頭直徑范圍mm | 10~200 |
鏡片焦距,mm | -20…+20 |
透鏡組件極限長度,mm | 680 |
接口,尺寸和重量 | |
接口 | USB2.0 |
功率 | 110W |
電源 | 110-220V,AC,50-60HZ |
寬度×深度×高度,mm | 1060×410×420 |
凈重,kg | 86 |
產(chǎn)品特點(diǎn):
大容量樣品倉與滑動式探測器
專為曲面光學(xué)元件設(shè)計(jì)的直接測量方案
廣泛的兼容性
高效的光譜掃描速度
高精度光學(xué)參數(shù)
參考通道設(shè)計(jì)
專用軟件支持
應(yīng)用方向:
LINZA 2752 主要面向中波紅外光學(xué)元件的研發(fā)與生產(chǎn)質(zhì)檢。其核心應(yīng)用涵蓋以下領(lǐng)域:
紅外光學(xué)透鏡鍍膜表征: 對鍍膜后的單枚透鏡(凸透鏡、凹透鏡、非球面透鏡)、多透鏡組件及完整物鏡進(jìn)行軸上透射光譜測量,評估增透膜、高反膜等紅外鍍膜在中波紅外波段(2.7–5.2 µm)的實(shí)際光學(xué)性能,為鍍膜工藝優(yōu)化提供直接數(shù)據(jù)。
紅外成像與傳感光學(xué)系統(tǒng)驗(yàn)證: 適用于紅外熱成像儀、中波紅外探測器、MWIR 光學(xué)傳感設(shè)備中的透鏡組件性能評估,確保組裝后的整機(jī)系統(tǒng)在中波紅外觀測波段達(dá)到設(shè)計(jì)預(yù)期的透射指標(biāo)。
光學(xué)鏡片來料檢驗(yàn): 在鏡片供應(yīng)鏈中,采用 LINZA 2752 對采購的中波紅外透鏡與鏡頭組件進(jìn)行全檢或抽樣檢測,確保入庫光學(xué)元件的中波紅外透射率符合采購技術(shù)規(guī)范要求,從源頭控制光學(xué)系統(tǒng)裝配質(zhì)量的一致性。
質(zhì)量認(rèn)證與出貨前檢驗(yàn): 為光學(xué)透鏡和物鏡制造商在生產(chǎn)線上配備 LINZA 2752 中波紅外光譜測量能力,在產(chǎn)品交付前對成品進(jìn)行出廠檢測與認(rèn)證,大幅降低客戶端的批次性退貨風(fēng)險(xiǎn)。
光學(xué)材料篩選: 對硅(Si)、鍺(Ge)、硫化鋅(ZnS)、硒化鋅(ZnSe)、硫系玻璃等中波紅外光學(xué)材料的基底材料和鍍膜元件進(jìn)行透射光譜表征,篩選合格的光學(xué)材料用于紅外光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與裝配。
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