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產(chǎn)品型號neaSCOPE
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
更新時(shí)間:2026-06-17 14:30:50瀏覽次數(shù):2192次
聯(lián)系我時(shí),請告知來自 化工儀器網(wǎng)| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
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近場光學(xué)是德國neaspec公司推出的全新一代散射式進(jìn)場光學(xué)顯微鏡(簡稱s-SNOM),加載了全新技術(shù),拓展了產(chǎn)品功能,以滿足客戶多樣的實(shí)驗(yàn)需求?;谏⑸涫胶诵脑O(shè)計(jì)技術(shù),neaSCOPE在很大程度上提高了光學(xué)分辨率,并且不依賴于入射激光的波長,能夠在可見、紅外和太赫茲光譜范圍內(nèi),提供高于10 nm空間分辨率的光譜和近場光學(xué)圖像。同時(shí)支持s-SNOM功能與納米紅外(FTIR)、針尖增強(qiáng)拉曼(TERS)、超快光譜(Ultrafast)和太赫茲光譜(THz)進(jìn)行聯(lián)用,實(shí)現(xiàn)高分辨光譜和成像。由于其高度的可靠性和可重復(fù)性,neaSCOPE已成為納米光學(xué)領(lǐng)域熱點(diǎn)研究方向的科研設(shè)備,在等離子激元、二維材料聲子化、半導(dǎo)體載流子濃度分布、生物材料紅外表征、電子激發(fā)及衰減過程等眾多研究方向得到了許多重要科研成果。
設(shè)備點(diǎn):
![]() | 行業(yè)的針尖增強(qiáng)技術(shù),高質(zhì)量的納米分析實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。 |
![]() | 功能多樣、可靠性高,已得到大量發(fā)表文章的印證,在納米光學(xué)領(lǐng)域有很深的影響力,是國內(nèi)外實(shí)驗(yàn)室的優(yōu)先選擇。 |
![]() | 軟件使用方便,提供交互式用戶引導(dǎo)功能,新用戶也能快速上手。流程化的軟件界面,逐步引導(dǎo)用戶輕松完成實(shí)驗(yàn)操作。 |
![]() | 采用模塊化設(shè)計(jì),針對用戶的實(shí)驗(yàn)需求量身定制配置,同時(shí)兼顧未來的升需求,無需重復(fù)購置主機(jī)。 |
s-SNOM基本原理:
照明的顆粒會在其周圍形成增強(qiáng)的光場,而這個(gè)近場會被其附近的樣品改變,這種近場互相作用會導(dǎo)致在遠(yuǎn)場接受到的散射光帶有樣品局部的光學(xué)性質(zhì)。當(dāng)激光(可見,紅外、太赫茲)聚焦到標(biāo)準(zhǔn)金屬涂層AFM針尖上時(shí),會在針尖頂點(diǎn)形成比激發(fā)波長小幾千倍,尺寸只由針尖曲率半徑?jīng)Q定的納米焦點(diǎn)。這個(gè)納米焦點(diǎn)用來局部探測樣品,通過記錄探針掃描樣品過程中的散射光可以獲得近場光學(xué)成像。

設(shè)備型號:所有產(chǎn)品都包含支持紅外、太赫茲和可見光波長范圍的納米尺度成像和光譜的定制AFM
IR-neaSCOPE 基于AFM 針尖的激光誘導(dǎo)光熱膨脹(PTE+)的納米紅外成像和光譜。 |
VIS-neaSCOPE+s 局部電磁場偏振分辨的近場成像(振幅和相位)。 |
IR-neaSCOPE+s 探測商用AFM針尖的彈性散射光,實(shí)現(xiàn)納米紅外成像和光譜。 |
cryo-neaSCOPE+xs 低溫環(huán)境下的納米尺度光學(xué)成像和光譜 |
THz-neaSCOPE+xs 納米尺度太赫茲(THz)近場成像和光譜平臺 |
IR-neaSCOPE+fs 10fs 時(shí)間分辨率和 10nm 空間分辨率的超快泵浦光譜。 |
IR-neaSCOPE+TERs nano-FTIR與nano-PL和TERS相結(jié)合,突破性的納米尺度光譜探測技術(shù)。 |
Comparison Table
參考不同型號功能,選擇適合您研究需求的neaSCOPE。
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| 標(biāo)準(zhǔn)原子力顯微鏡功能 | |||||||
| 光熱膨脹功能 | |||||||
| 輕敲式原子力紅外吸收光譜 | |||||||
| 散射式近場光學(xué)成像與光譜 | |||||||
| 近場透射模式 | |||||||
| 納米傅里葉紅外光譜與成像 | |||||||
| 近場泵浦-探測 | |||||||
| 高速全息成像 | |||||||
| 納米太赫茲時(shí)域光譜 | |||||||
| 針尖增強(qiáng)拉曼/納米光致發(fā)光 | |||||||
開爾文探針力、導(dǎo)電力、壓電力、探針力顯微功能 | Available for all room-T systems | ||||||
| 共聚焦顯微功能 | Upgrade Available | ||||||
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