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2026ˉ5工程師日記 | 解決XRF光譜儀測(cè)試樣品轉(zhuǎn)盤警報(bào)的問題
客戶反饋客戶反饋XRF光譜儀初始化動(dòng)作異常，轉(zhuǎn)盤復(fù)位異常。01儀器類型EA1000AIII臺(tái)式X射線熒光光譜儀02應(yīng)用背景知識(shí)EA1000AIII臺(tái)式X射線熒光光譜儀用于RoHS有害物質(zhì)的分析判定。020
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2026ˉ1日立高新技術(shù)推出FOUNDRY-MASTER Smart 2，提升固定式直讀光譜儀的性能與價(jià)值
助力制造業(yè)將高精度分析儀器轉(zhuǎn)化為數(shù)字化資產(chǎn)，推動(dòng)基于Lumada的數(shù)字化服務(wù)?兼顧價(jià)值、易用性與長期可靠性，同時(shí)保持令用戶信賴的性能?全新科學(xué)級(jí)CMOS傳感器與超穩(wěn)定火花光源能夠在用戶現(xiàn)場(chǎng)實(shí)現(xiàn)科學(xué)實(shí)驗(yàn)27
2026ˉ5TA FAQs【17】| DMA測(cè)試時(shí)，測(cè)量頻率該如何制定？
關(guān)注我們，解答更多熱分析問題在您的儀器使用過程中一定會(huì)遇到許多使用和維護(hù)的疑惑我們?cè)谶@里幫您助力使用您的儀器盡在FAQsDMA測(cè)試時(shí)，測(cè)量頻率該如何制定？在動(dòng)態(tài)粘彈性測(cè)量（DMA）中，頻率是指試樣周期性變形時(shí)，每秒期間重復(fù)的周期數(shù)。如果每秒期間1個(gè)周期的正弦波15
2026ˉ52026年同步熱分析儀型號(hào)推薦：日立STA200 & STA300，精準(zhǔn)熱分析的高性價(jià)比之選
在材料研發(fā)與質(zhì)量控制領(lǐng)域，同步熱分析儀（STA）已成為核心工具。日立分析儀器（上海）有限公司憑借其深厚的技術(shù)積淀，推出的STA200和STA300兩款同步熱分析儀，以靈敏度、穩(wěn)定的性能和人性化的設(shè)計(jì)，成為2026年市場(chǎng)上具競(jìng)爭力的高性價(jià)比機(jī)型。無論您是深耕學(xué)術(shù)15
2026ˉ5應(yīng)用報(bào)告 | 差示掃描量熱法（DSC）用于測(cè)量聚合物在等溫狀態(tài)下的結(jié)晶過程
前言_差示掃描量熱法（DSC）可用于測(cè)量聚合物在等溫狀態(tài)下的結(jié)晶過程。這種測(cè)量稱為等溫結(jié)晶測(cè)量，通過結(jié)晶過程的DSC曲線可對(duì)結(jié)晶速率，結(jié)晶構(gòu)造等進(jìn)行分析。DSC的等溫結(jié)晶測(cè)量被用于研究高分子材料成型工藝中最佳冷卻速率和溫度等成型條件。此外，由于結(jié)晶性高分子的結(jié)14
2026ˉ5TA FAQs【16】| 如何校正熱分析恒溫測(cè)量時(shí)，試樣溫度會(huì)偏離設(shè)定溫度的問題
在您的儀器使用過程中一定會(huì)遇到許多使用和維護(hù)的疑惑我們?cè)谶@里幫您助力使用您的儀器盡在FAQs熱分析設(shè)備恒溫測(cè)量時(shí)，試樣溫度會(huì)偏離設(shè)定溫度。有什么校正方法嗎？在熱分析設(shè)備的電腦測(cè)量界面以及測(cè)量儀器的LCD屏幕上，會(huì)顯示以下3個(gè)溫度。測(cè)量開始后，熱分析軟件中設(shè)定的14
2026ˉ5工程師日記 | 解決測(cè)厚儀自動(dòng)校正顯示數(shù)值異常的問題
客戶反饋客戶反饋?zhàn)詣?dòng)校正顯示數(shù)值異常。01儀器類型XRF鍍層測(cè)厚儀FT110A02應(yīng)用背景知識(shí)以熒光X射線原理對(duì)電鍍膜等表面處理薄膜的厚度進(jìn)行非破壞性的測(cè)試。03現(xiàn)場(chǎng)服務(wù)方案日立工程師抵達(dá)客戶處后發(fā)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)灰塵較多，開機(jī)暖機(jī)初始化正常完成后，X射線自動(dòng)校正階段數(shù)14
2026ˉ5TA FAQs【15】| DSC測(cè)試時(shí)，參比物應(yīng)該選擇什么物質(zhì)，以及應(yīng)該放多少量？
在您的儀器使用過程中一定會(huì)遇到許多使用和維護(hù)的疑惑我們?cè)谶@里幫您助力使用您的儀器盡在FAQsDSC測(cè)試時(shí)，參比物應(yīng)該選擇什么物質(zhì)，以及應(yīng)該放多少量？DSC測(cè)量時(shí)，需將熱容與試樣相當(dāng)?shù)奈镔|(zhì)作為參比物置于參比物側(cè)的傳感器上（圖1）。此外，試樣側(cè)和參比物側(cè)使用同種坩12
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2026ˉ5日立UH4150紫外分光光度計(jì)：寬譜高速 精準(zhǔn)表征固體與薄膜
當(dāng)分析對(duì)象的邊界從傳統(tǒng)的紫外-可見區(qū)，拓展至包含近紅外的廣闊光譜疆域時(shí)，挑戰(zhàn)便以指數(shù)級(jí)增長：如何在跨越上千納米的波長范圍內(nèi)，同時(shí)實(shí)現(xiàn)低雜散光、高精度與高測(cè)量通量？日立UH4150紫外/可見/近紅外分光光度計(jì)，正是為應(yīng)對(duì)此類高端材料與能源研究中的復(fù)雜表征需求而打請(qǐng)輸入賬號(hào)
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