日本 Takano 高野 液晶面板膜厚檢測(cè)裝置 日本 Takano 高野 液晶面板膜厚檢測(cè)裝置
1. 產(chǎn)品概述
本設(shè)備專(zhuān)為 LCD 液晶面板產(chǎn)線(xiàn)打造,替代人工目檢,搭載線(xiàn)性線(xiàn)陣相機(jī),搭配透射 / 反射雙模式 LED 照明,全自動(dòng)識(shí)別 CF 彩色濾光、TFT 旋涂工序樹(shù)脂涂層 ** 姆拉(膜厚不均)** 缺陷;適配 2200×2500mm 大尺寸基板,30 秒內(nèi)完成單張全幅掃描,可對(duì)戶(hù)現(xiàn)有輸送流水線(xiàn)改造,穩(wěn)定檢出 1mm 以上膜層厚薄異常,覆蓋 OC 膜、PI 膜各類(lèi)樹(shù)脂涂層制程。
2. 整機(jī)完整規(guī)格參數(shù)
表格
項(xiàng)目參數(shù)詳情
拍攝成像線(xiàn)性感測(cè)線(xiàn)陣攝像頭
照明模式透射照明 / 反射照明雙模式切換
光源系統(tǒng)定制 LED 光源,搭配對(duì)應(yīng)工序?qū)S霉鈱W(xué)濾光片
輸送對(duì)接流水線(xiàn)輸送,可改造適配客戶(hù)現(xiàn)有產(chǎn)線(xiàn)
缺陷檢出能力≥1mm 膜厚不均姆拉缺陷
檢測(cè)節(jié)拍≤30 秒 / 張(2200×2500mm 大基板)
3. 兩大核心產(chǎn)品特長(zhǎng)
全制程覆蓋姆拉自動(dòng)化檢測(cè)
適配 CF 彩色濾光、TFT 旋涂、各類(lèi)樹(shù)脂涂層全工序,全程自動(dòng)掃描,替代人工目視檢測(cè),降低人力漏檢。
全類(lèi)型膜層缺陷穩(wěn)定檢出
可識(shí)別 OC 膜不均、PI 膜不均、各類(lèi)樹(shù)脂涂層厚薄條紋、塊狀色差等姆拉不良,兼容多種成因的膜層缺陷。
4. 可檢測(cè)工序與缺陷類(lèi)型
適用制程
CF 彩色濾光片 注冊(cè)姆拉缺陷檢測(cè)
TFT 基板旋涂工藝膜厚不均檢測(cè)
全段樹(shù)脂涂層薄膜外觀(guān)檢測(cè)
典型缺陷
OC 膜層厚薄不均、PI 膜層涂布不均、樹(shù)脂涂層條紋、塊狀色差、局部薄厚異常
五、適用行業(yè)客戶(hù)
LCD 液晶面板廠(chǎng)、OLED 顯示面板工廠(chǎng)、CF 彩色濾光片制造企業(yè)、TFT 基板代工企業(yè)、顯示材料涂布產(chǎn)線(xiàn)廠(chǎng)商
六、缺陷成像檢測(cè)效果
設(shè)備輸出清晰面板灰度成像,直觀(guān)區(qū)分 OC 膜、PI 膜局部厚薄凸起 / 凹陷,標(biāo)記塊狀、條狀膜層不均區(qū)域,自動(dòng)分類(lèi)不良類(lèi)型,同步記錄缺陷坐標(biāo)用于產(chǎn)線(xiàn)追溯。
用戶(hù)評(píng)論
發(fā)布評(píng)論