日本 UNIOPT 半導(dǎo)體晶圓晶體缺陷檢測(cè)儀 日本 UNIOPT 半導(dǎo)體晶圓晶體缺陷檢測(cè)儀
1. 品牌簡(jiǎn)介
ユニオプト株式會(huì)社(UNIOPT),日本專業(yè)光學(xué)測(cè)量設(shè)備廠商,核心標(biāo)語Light as the measurement probe,依托多波段激光、Schlieren 紋影光學(xué)技術(shù),面向光學(xué)元件、半導(dǎo)體、流體實(shí)驗(yàn)提供高精度可視化檢測(cè)設(shè)備。
2. 產(chǎn)品概述
UMY-10 脈理觀察器采用施利倫(Schlieren)紋影光學(xué)法,搭配高靈敏工業(yè)相機(jī)、10 倍變焦鏡頭、超高亮度白光 LED 光源,可直觀捕捉透明材料局部折射率紊亂(脈理),畫面實(shí)時(shí)輸出至顯示器,無需專業(yè)培訓(xùn)即可完成高靈敏度無損檢測(cè);配套立式鋁型材機(jī)架,視野 Φ75mm,適配光學(xué)元件、半導(dǎo)體晶圓、氣流流體觀測(cè)多場(chǎng)景。
3. 完整硬件核心參數(shù)
表格
項(xiàng)目參數(shù)規(guī)格
光學(xué)原理Schlieren 施利倫紋影法
成像相機(jī)高靈敏度工業(yè)相機(jī)
鏡頭10 倍變焦鏡頭
照明光源超高輝度白色 LED 光源
有效視野Φ75mm
整機(jī)結(jié)構(gòu)立式鋁型材升降機(jī)架,臺(tái)面式載物平臺(tái)
觀測(cè)輸出實(shí)時(shí)顯示器成像
4. 同系列機(jī)型區(qū)分
UMY-10:標(biāo)準(zhǔn)立式垂直光路,常規(guī)平板透明件、晶圓檢測(cè);
UMY-20:光軸水平型,搭配專用治具,曲面鏡片無需浸液法,觀測(cè)操作更簡(jiǎn)便。
四、可觀測(cè)檢測(cè)對(duì)象(脈理定義)
脈理:玻璃等透明介質(zhì)局部折射率突變區(qū)域,設(shè)備可檢出以下缺陷 / 現(xiàn)象:
光學(xué)玻璃內(nèi)部脈理、表面劃傷、研磨不均(柚子皮紋理);
氣體氣流折射率擾動(dòng):噴涂噴嘴出氣氣流、風(fēng)道紊流、空氣對(duì)流可視化;
化合物半導(dǎo)體晶圓內(nèi)部晶體缺陷;
曲面透鏡類工件:可采用折射率匹配浸液法消除曲面干擾完成觀測(cè);UMY-20 水平款可免浸液簡(jiǎn)易檢測(cè)曲面鏡片。
五、四大核心產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1. Schlieren 紋影高靈敏成像,微小折射率缺陷可視化
肉眼無法分辨的細(xì)微折射率紊亂直接成像,檢出精度覆蓋光學(xué)加工、半導(dǎo)體晶圓微觀缺陷。
2. 操作門檻低,無需專業(yè)檢測(cè)培訓(xùn)
一體化光學(xué)光路 + 顯示器實(shí)時(shí)成像,普通操作員即可完成批量巡檢,降低人工培訓(xùn)成本。
3. 一機(jī)多用途,固體 / 流體雙向觀測(cè)
兼顧固體透明件缺陷質(zhì)檢、流體氣流可視化實(shí)驗(yàn),實(shí)驗(yàn)室與產(chǎn)線通用。
4. 大視野 Φ75mm,適配中大尺寸工件
單次觀測(cè)覆蓋大范圍樣品,減少多次移動(dòng)載臺(tái),提升批量檢測(cè)效率。
六、三大應(yīng)用領(lǐng)域
光學(xué)行業(yè):光學(xué)玻璃、透鏡、棱鏡脈理、劃痕、研磨不良全檢;
半導(dǎo)體行業(yè):化合物半導(dǎo)體晶圓晶體缺陷無損篩查;
流體實(shí)驗(yàn)室:氣流、噴涂氣流、風(fēng)道紊流可視化觀測(cè)實(shí)驗(yàn)。
用戶評(píng)論
發(fā)布評(píng)論