聚合物相結(jié)構(gòu)分析儀器 OTSUKA 大冢電子 PP-1000
聚合物相結(jié)構(gòu)分析儀器 OTSUKA 大冢電子 PP-1000
1. 產(chǎn)品研發(fā)定位
PP-1000 基于大冢電子自研光學(xué)散射檢測(cè)技術(shù)，采用小角激光光散射（SALS）原理，區(qū)別于 X 射線、中子散射，專注微米級(jí)高分子相結(jié)構(gòu)原位動(dòng)態(tài)定量分析，彌補(bǔ)偏光顯微鏡僅能定性觀測(cè)的短板，將散射圖譜數(shù)字化計(jì)算球晶直徑、相分離關(guān)聯(lián)長(zhǎng)度、結(jié)晶速率；廣泛用于結(jié)晶高分子、聚合物共混、熱固樹(shù)脂、高分子凝膠、功能性薄膜研發(fā)，完整記錄升溫、降溫、拉伸、UV 固化全過(guò)程微觀結(jié)構(gòu)演變。
2. 核心檢測(cè)原理
搭載 785nm 半導(dǎo)體激光光源與 CMOS 高速成像檢測(cè)器，激光穿透樣品產(chǎn)生特征散射圖案，通過(guò)偏振系統(tǒng)區(qū)分兩種檢測(cè)模式：
Hv 正交偏振散射：獲取四葉草型特征散射圖，擬合計(jì)算結(jié)晶材料球晶直徑、光學(xué)各向異性、結(jié)晶生長(zhǎng)速率，適用 PP、PVDF、PET 等結(jié)晶薄膜；
Vv 平行偏振散射：采集圓形散射圖譜，通過(guò) Debye-Bueche 公式自動(dòng)擬合，得到聚合物共混體系相分離關(guān)聯(lián)長(zhǎng)度，表征海島相分散均勻度；
設(shè)備最短 10ms 完成 0.33°~45° 全角度散射圖像采集，連續(xù)捕捉毫秒級(jí)瞬態(tài)結(jié)構(gòu)變化，實(shí)現(xiàn)全過(guò)程動(dòng)態(tài)量化記錄。
3. 硬件功能詳情
超高速全域散射采集
單次完整散射角掃描最快僅 10ms，無(wú)滯后捕捉熔融、淬火、快速相分離等瞬時(shí)結(jié)構(gòu)變化，支持長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)動(dòng)態(tài)錄像與數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，完整還原材料結(jié)構(gòu)演變?nèi)^(guò)程。
雙散射模式軟件一鍵切換
無(wú)需手動(dòng)拆裝偏振片，操作界面一鍵切換 Hv/Vv 檢測(cè)模式，一套設(shè)備同時(shí)完成結(jié)晶球晶表征、共混相分離分析，減少樣品重復(fù)上機(jī)操作。
多形態(tài)樣品兼容設(shè)計(jì)
標(biāo)配薄膜樣品臺(tái)，搭配專用密封液體樣品池，可測(cè)試高分子溶液、凝膠、乳液；光斑直徑約 1mm，微量薄膜、薄層溶液均可穩(wěn)定測(cè)量。
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