日本 NAPSON 便攜式片電阻測量儀器 日本 NAPSON 便攜式片電阻測量儀器
1. 產(chǎn)品概述
可更換雙探頭手持式方塊電阻測量設備,一臺主機搭配渦流無損探頭與四探針接觸式探頭,兼顧非破壞檢測與寬量程高精度測量;整機便攜手持設計,內(nèi)置電池續(xù)航 24 小時,適配產(chǎn)線現(xiàn)場、實驗室快速抽檢各類導電薄膜。
2. 兩種探頭核心參數(shù)對比
表格
項目渦流無損探頭(非接觸)四探針接觸探頭(接觸式)
測量光斑 / 針距φ25mm 光斑9mm 總寬,針間距 3mm
方塊電阻量程0.5~200Ω/sq0.001~4000Ω/sq
測量特性不損傷樣品,適合成品全檢量程極寬,適配高 / 低阻薄膜
3. 整機物理尺寸與重量
手持主機:W100×D32×H210mm,約 350g(不含電池)
無損渦流探頭:70×20×70mm,約 170g
四探針接觸探頭:40×15×50mm,約 85g
4. 核心硬件功能
一鍵單點自動測量,放置探頭即可讀數(shù);
屏幕 3 種單位切換:Ω/□、S/□、n/m(金屬膜厚度換算),4 位浮點顯示;
本地緩存:面板即時顯示 100 組數(shù)據(jù),配套軟件可存儲 50000 組;
Mini-USB 數(shù)據(jù)導出,可對接電腦專用分析軟件;
續(xù)航:內(nèi)置電池連續(xù)工作 24 小時;
銷售套組可選:主機 + 無損探頭 / 主機 + 接觸探頭 / 全套雙探頭。
四、五大核心產(chǎn)品優(yōu)勢
1. 一機雙測,無損 + 高精度兼顧
業(yè)內(nèi)手持雙探頭機型,渦流探頭不劃傷成品薄膜用于產(chǎn)線巡檢;四探針超寬量程適配研發(fā)高低阻樣品,無需購置兩臺設備。
2. 超便攜手持機身,現(xiàn)場快速檢測
整機輕量化,單手可握持,電池供電無需外接電源,可直接帶到鍍膜產(chǎn)線、來料倉、實驗室快速抽檢。
3. 超長續(xù)航,全天不間斷檢測
電池模式連續(xù)運行 24 小時,滿足工廠全天批量抽檢需求,無需頻繁充電。
4. 大容量數(shù)據(jù)存儲,便于品質(zhì)追溯
本地臨時緩存 + 電腦端海量存儲,導出數(shù)據(jù)用于批次品質(zhì)記錄、工藝曲線分析。
5. 適配全品類導電薄膜,應用覆蓋面廣
兼容 ITO、TCO、低輻射玻璃、石墨烯、碳納米管、金屬納米線網(wǎng)格等各類導電涂層。
五、適用測量樣品與行業(yè)
測量樣品
ITO 導電膜、TCO 薄膜、Low-E 低輻射玻璃、石墨烯、碳納米管導電涂層、金屬納米線 / 金屬柵格薄膜、各類玻璃基底導電鍍層。
應用行業(yè)
液晶顯示、觸控面板、光伏玻璃、建筑節(jié)能玻璃、柔性電子、新材料實驗室、光學鍍膜加工廠。
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