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藍(lán)景電纜故障測(cè)試儀ARM+FPGA雙核芯片+波形比對(duì)功能
市面常規(guī)電纜故障測(cè)試儀普遍采用普通單核MCU芯片，運(yùn)算速度慢，波形處理能力弱，面對(duì)電纜接頭氧化、線路老化壓降、隱性高阻故障等疑難故障，波形變化微弱，儀器無(wú)法識(shí)別細(xì)微波形差異，無(wú)法定位電壓偏低、線路暗損類(lèi)隱性故障。這類(lèi)疑難故障不會(huì)直接造成短路跳閘，但會(huì)導(dǎo)致后端電壓不足、供電不穩(wěn)，常規(guī)儀器無(wú)法檢測(cè)，成為線路運(yùn)維長(zhǎng)期盲區(qū)。同時(shí)單核設(shè)備波形刷新卡頓，現(xiàn)場(chǎng)復(fù)雜波形分析耗時(shí)久，搶修效率低下。藍(lán)景儀器采用ARM主控CPU+FPGA高速現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列雙核架構(gòu)，算力翻倍，新增波形比對(duì)分析功能，攻克疑難線路故障檢測(cè)難題。
雙核芯片分工協(xié)作，ARM負(fù)責(zé)人機(jī)交互、參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，F(xiàn)PGA負(fù)責(zé)高速波形采集與運(yùn)算處理，波形采集速度更快、分析更精準(zhǔn)，秒級(jí)識(shí)別微弱故障反射信號(hào)，輕松捕捉普通儀器無(wú)法識(shí)別的線路老化、接頭氧化細(xì)微波形變化。波形對(duì)比功能，可存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)完好電纜波形，現(xiàn)場(chǎng)實(shí)測(cè)波形與標(biāo)準(zhǔn)波形一鍵比對(duì)，直觀看出波形偏移點(diǎn)位，精準(zhǔn)定位電纜氧化、接觸不良、暗損耗故障，解決后端電壓偏低的疑難運(yùn)維痛點(diǎn)。
儀器脈沖信號(hào)自適應(yīng)調(diào)節(jié)更智能，針對(duì)高阻漏電、低阻短路、斷線、線路氧化四類(lèi)常見(jiàn)故障自動(dòng)適配運(yùn)算邏輯，無(wú)需運(yùn)維人員手動(dòng)切換故障模式，降低操作門(mén)檻。整機(jī)電路架構(gòu)簡(jiǎn)潔，集成度高，硬件故障率低，野外惡劣環(huán)境運(yùn)行穩(wěn)定可靠。
老舊電纜線路大修、疑難隱性故障排查、線路電壓偏低溯源、電纜接頭老化隱患檢測(cè)場(chǎng)景，雙核算力+波形比對(duì)黑科技，補(bǔ)齊傳統(tǒng)儀器檢測(cè)盲區(qū)，既能測(cè)顯性短路斷線故障，也能查隱性線路老化故障，全面覆蓋所有電纜運(yùn)維疑難場(chǎng)景。
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