還在依靠多臺(tái)分體儀器拼接搭建傳感器測(cè)試平臺(tái)？多設(shè)備反復(fù)拆裝、數(shù)據(jù)不同步、多軟件切換操作繁瑣，不僅拉長(zhǎng)研發(fā)測(cè)試周期，還易引入接線誤差、同步偏差，影響試驗(yàn)數(shù)據(jù)一致性與研發(fā)效率。華測(cè)儀器 Huace-AT3000 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng)，單臺(tái)設(shè)備集成五大測(cè)試模塊，實(shí)現(xiàn)溫度、電阻、電容、壓電、電化學(xué)多物理場(chǎng)同步聯(lián)動(dòng)測(cè)試，一站式覆蓋傳感器與功能材料性能表征，減少實(shí)驗(yàn)室設(shè)備投入與運(yùn)維成本。

五大集成模塊性能

溫度模擬模塊：覆蓋 - 20℃~500℃寬域可控溫區(qū)，搭載紅外微距非接觸測(cè)溫技術(shù)，準(zhǔn)確復(fù)現(xiàn)傳感器高溫、低溫、溫變循環(huán)等真實(shí)服役工況，支持溫譜同步聯(lián)動(dòng)電學(xué)測(cè)試，捕捉材料與器件隨溫度變化的性能變化規(guī)律。

電阻測(cè)試模塊：標(biāo)配 40 通道并行同步采集通道，電流測(cè)量10pA~1A 寬量程，搭載四象限可編程源表，可完成 I-V 特性、I-t 時(shí)序穩(wěn)態(tài)、漏電流、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試，多通道并行采集無需分批測(cè)試，批量樣品檢測(cè)效率得到優(yōu)化。

電容阻抗測(cè)試模塊：20Hz–10MHz 全頻段連續(xù)掃頻，準(zhǔn)確測(cè)量阻抗、介電損耗、電容、等效串聯(lián)/并聯(lián)電路參數(shù)，適配介電材料、電容式傳感器溫譜阻抗掃描，高頻、低頻特性一站式表征，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)同步溫變曲線。

壓電測(cè)試模塊：內(nèi)置微弱信號(hào)放大單元，可捕捉 nA 級(jí)微弱壓電電流與毫伏級(jí)開路電壓，自動(dòng)換算壓電系數(shù)、熱釋電系數(shù)、熱電轉(zhuǎn)換效率，適配壓電傳感、熱電薄膜、鐵電功能材料微觀性能定量分析。

電化學(xué)測(cè)試模塊：8 通道單獨(dú)電位控制，恒電位帶寬可達(dá) 2MHz，各通道可單獨(dú)設(shè)置測(cè)試參數(shù)互不干擾；適配電化學(xué)傳感器、儲(chǔ)能電極、導(dǎo)電高分子、腐蝕材料等電化學(xué)性能測(cè)試，支持循環(huán)伏安、恒流充放電、阻抗電化學(xué)等。

整機(jī)統(tǒng)一測(cè)試軟件控制，五大模塊同步采集、數(shù)據(jù)同源無偏差，無需多設(shè)備校準(zhǔn)同步；普遍適配 MEMS 傳感器、壓電 / 熱電傳感件、電子陶瓷、絕緣介質(zhì)、柔性薄膜、電化學(xué)傳感元件、儲(chǔ)能材料等研發(fā)、可靠性驗(yàn)證與性能標(biāo)定場(chǎng)景，是高校實(shí)驗(yàn)室、材料研究院、傳感企業(yè)研發(fā)產(chǎn)線的性能測(cè)試平臺(tái)。