大塚電子——用光學(xué)技術(shù)重新定義粒徑分析與表面電位測(cè)量

在膠體科學(xué)、材料研發(fā)與制藥工程等領(lǐng)域，顆粒的粒徑分布與表面電荷特性是決定體系穩(wěn)定性的核心參數(shù)。日本大塚電子株式會(huì)社（Otsuka Electronics）自1970年成立以來(lái)，始終以“用光學(xué)技術(shù)解決世界問(wèn)題”為使命，深耕光學(xué)測(cè)量與分析技術(shù)領(lǐng)域，形成了獨(dú)特的技術(shù)體系。作為大塚集團(tuán)旗下的重要科技企業(yè)，大塚電子將其核心技術(shù)應(yīng)用于粒徑分析、Zeta電位測(cè)量和膜厚檢測(cè)等領(lǐng)域，為全球醫(yī)療健康、生命科學(xué)、新材料和半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)提供了多種創(chuàng)新方案。

大塚電子（蘇州）有限公司成立于2007年4月，致力于讓中國(guó)客戶安心使用已有50年歷史的日本大塚電子所研發(fā)的測(cè)量與分析設(shè)備。公司產(chǎn)品涵蓋納米顆粒粒徑和Zeta電位測(cè)量設(shè)備、半導(dǎo)體晶圓和薄膜厚度檢測(cè)設(shè)備，以及LED、OLED等光源和照明行業(yè)的光學(xué)特性評(píng)估設(shè)備。以高速、高精度、高可靠性的納米粒度儀器系列為基礎(chǔ)，大塚電子在中國(guó)的納米材料、生物制藥等市場(chǎng)上已有20年以上銷售實(shí)例，為眾多廠商的研發(fā)和生產(chǎn)部門所使用。

大塚電子的核心競(jìng)爭(zhēng)力在于其光學(xué)測(cè)量平臺(tái)。通過(guò)散射光、光譜分析、膜厚測(cè)量等技術(shù)的不斷創(chuàng)新與融合，公司成功地將“看不見(jiàn)的世界”以數(shù)據(jù)的方式清晰呈現(xiàn)出來(lái)。本文將從粒度儀、Zeta電位計(jì)和膜厚計(jì)三個(gè)維度，系統(tǒng)介紹大塚電子的核心產(chǎn)品線及其在多領(lǐng)域的應(yīng)用價(jià)值。