在導(dǎo)電薄膜、光學(xué)涂層、柔性電子等領(lǐng)域，薄層電阻（面電阻）的精準檢測是把控材料性能與產(chǎn)品品質(zhì)的關(guān)鍵。日本 NAPSON（納普遜）DUORES 手持式薄層電阻測量儀，憑借接觸 / 非接觸雙探頭可換、無損測量、便攜高效的核心優(yōu)勢，成為 ITO 膜、Low-E 玻璃、石墨烯等材料研發(fā)標定、進廠檢驗與量產(chǎn)質(zhì)控的全能設(shè)備，適配實驗室、車間現(xiàn)場的高精度測量需求。

設(shè)備創(chuàng)新集成兩大測量原理探頭，無需多臺儀器，一鍵切換即可覆蓋全場景檢測需求，為可換雙探頭手持式測量方案。

• 非接觸式渦流探頭（無損）：采用電磁渦流感應(yīng)原理，零接觸、零損傷樣品，測量范圍 0.5–200Ω/□，光斑 φ25mm，適配脆性薄膜、透明涂層、精密面板，適合大批量快速篩檢。

• 接觸式四探針探頭（高精度）：經(jīng)典四探針法，數(shù)據(jù)可溯源，測量范圍 0.001–4000Ω/□，針距 3mm、測量區(qū)域 9mm，覆蓋超低阻到高阻全量程，滿足研發(fā)標定、質(zhì)量仲裁需求。

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  整機采用輕量化手持設(shè)計，主機尺寸 W100×D32×H210mm，重量約 350g（不含電池），單手可輕松握持操作。搭載自動測量感應(yīng)技術(shù)，探頭輕觸或放置樣品表面即自動啟動測量，無需繁瑣按鍵，大幅提升檢測效率。配備長續(xù)航電池，連續(xù)工作時長可達 24 小時，適配全天現(xiàn)場移動檢測需求。

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  數(shù)據(jù)管理功能強，4 位浮點數(shù)顯示，支持 Ω/□、S/□、n/m（膜厚換算）三種單位一鍵切換，讀數(shù)直觀精準。機身可存儲最大 50,000 組測量數(shù)據(jù)，實時顯示最新 100 組，通過 USB-Mini 接口可快速導(dǎo)出數(shù)據(jù)至電腦，便于溯源存檔與分析，契合工業(yè)品質(zhì)管控規(guī)范。

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  設(shè)備適配各類薄型導(dǎo)電材料，廣泛應(yīng)用于 ITO/TCO 導(dǎo)電膜、Low-E 節(jié)能玻璃、碳納米管、石墨烯、金屬納米線 / 網(wǎng)格薄膜等產(chǎn)品的檢測，不受樣品尺寸限制（大于探頭光斑即可），薄膜、玻璃、紙張等基材均可測量。核心元器件穩(wěn)定耐用，日常維護簡單，長期使用精度無漂移，是導(dǎo)電材料與薄膜電子行業(yè)的標準配置儀器。

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