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全反射X射線熒光光譜儀：多元素微量分析科學(xué)儀器
全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)是一種用于多元素微量分析的科學(xué)儀器，通過(guò)全反射X射線熒光技術(shù)實(shí)現(xiàn)對(duì)液體、懸浮液、固體及污染物樣品中主量和微量(包括超微量)元素的快速、高靈敏度檢測(cè)。
TXRF通過(guò)很小角度(通常低于0.1°)的入射X射線照射樣品表面，使X射線發(fā)生全反射現(xiàn)象。此時(shí)，入射X射線不再被樣品散射，而是僅激發(fā)樣品表層微米級(jí)物質(zhì)，產(chǎn)生特征X射線譜。這一過(guò)程明顯降低了散射光子對(duì)探測(cè)器信號(hào)的干擾，使背景噪聲大幅降低(較常規(guī)XRF降低約四個(gè)量級(jí))，從而實(shí)現(xiàn)納克(ng)量級(jí)痕量元素的檢測(cè)。
當(dāng) X 射線以小于臨界角(通常 0.1°-0.5°) 入射到樣品載體(如石英片)表面時(shí)，會(huì)發(fā)生全反射，避免載體對(duì) X 射線的吸收和散射；樣品(均勻鋪展在載體表面，厚度≤100nm)中的元素原子被激發(fā)，發(fā)射出特征 X 射線熒光(XRF)；通過(guò)探測(cè)器采集特征 X 射線的能量和強(qiáng)度，根據(jù)能量識(shí)別元素種類，根據(jù)強(qiáng)度定量計(jì)算元素含量。
特點(diǎn)：
高靈敏度與低檢測(cè)限：適用于超細(xì)顆粒物和痕量元素分析。
樣品用量少：僅需微升級(jí)或微克級(jí)樣品，即可完成準(zhǔn)確分析，尤其適合樣品量有限的情況。
無(wú)基體效應(yīng)：全反射幾何配置減少了樣品基底對(duì)測(cè)量結(jié)果的干擾，定量分析更簡(jiǎn)單。
快速無(wú)損檢測(cè)：?jiǎn)未螜z測(cè)時(shí)間可縮短至5分鐘以內(nèi)，且無(wú)需破壞樣品。
多元素分析能力：可同時(shí)檢測(cè)多種元素，如鉻、鉛等8大主要重金屬元素，或根據(jù)需求擴(kuò)展至近30個(gè)元素。
操作簡(jiǎn)便與安全：觸控界面直觀，且輻射暴露風(fēng)險(xiǎn)較低，保障操作人員安全。
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