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陰極發(fā)光顯微鏡的原理說明
陰極發(fā)光是由電子束轟擊樣品時產生的可見光，不同礦物由于含有不同的激活劑元素而產生不同的陰極發(fā)光，用來激發(fā)并產生陰極發(fā)光的裝置叫做陰極發(fā)光裝置，把這種陰極發(fā)光裝置裝在顯微鏡上則成為陰極發(fā)光顯微鏡。陰極發(fā)光顯微鏡可以廣泛地應用于巖石、礦物的鑒定以及成巖作用的研究。
1、電子束從一個高壓電源加速，通過一個真空管道，射向樣品表面。
2、當電子束與樣品相互作用時，會產生多種現(xiàn)象，包括彈射、散射、吸收、激發(fā)等。
3、其中一部分激發(fā)的電子會躍遷到低能級，同時釋放出能量，形成可見光或其他波長的光子。這就是陰極發(fā)光的過程。
4、陰極發(fā)光的光子會被一個透鏡系統(tǒng)收集，并傳輸?shù)揭粋€探測器上，如攝像機、光譜儀或其他儀器。
5、通過對陰極發(fā)光的強度、顏色、分布和波長等參數(shù)進行測量和分析，可以獲得樣品的各種信息，如成分、晶體結構、缺陷、應力等。
CLF-2陰極發(fā)光顯微鏡主要用于系統(tǒng)研究方解石、白云石、石英、長石、硅灰石等礦物的發(fā)光性；礦物的環(huán)帶構造及形成機理；礦物的種類及成因鑒別；晶體生長環(huán)境研究；礦物生長過程中的熱事件研究；礦物先后形成的世代研究。
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