CTP343 Catphan® 低對(duì)比度 CT 性能測(cè)試模體是一款專(zhuān)門(mén)用于評(píng)估 CT 掃描儀低對(duì)比度性能的設(shè)備。配備了 CTP344 低對(duì)比度模塊，用于測(cè)量低對(duì)比度敏感度。該模型包含 3 組低對(duì)比度桿狀物。配備了 CTP344 低對(duì)比度模塊以及 CTP486-5 均勻性模塊。

Catphan® 343 模擬儀配備有 Catphan® 保護(hù)殼和安裝支架。將模擬儀安裝在保護(hù)殼上后，可以將其懸掛在桌子邊緣之外，從而消除桌面產(chǎn)生的干擾。通過(guò)調(diào)節(jié)拇指螺絲，可以將模擬儀調(diào)平。

在 3 個(gè)對(duì)比度目標(biāo)陣列中，所有目標(biāo)均由單一混合物制成

由于目標(biāo)對(duì)比度是名義值，因此在測(cè)試特定對(duì)比度性能規(guī)格之前，需要先確定實(shí)際的目標(biāo)對(duì)比度。實(shí)際的

對(duì)比度水平是通過(guò)在較大的目標(biāo)區(qū)域以及局部背景區(qū)域進(jìn)行感興趣區(qū)域測(cè)量來(lái)確定的。要得出實(shí)際的對(duì)比度水平，需對(duì)多次掃描所得的測(cè)量值進(jìn)行平均。

測(cè)量與所測(cè)目標(biāo)相鄰的背景區(qū)域非常重要，因?yàn)椤鞍枷?和“覆蓋"效應(yīng)會(huì)導(dǎo)致不同掃描區(qū)域的 CT 值出現(xiàn)差異。應(yīng)將感興趣區(qū)域定位在避開(kāi)目標(biāo)邊緣的位置。這個(gè)

感興趣區(qū)域的直徑至少應(yīng)為 4×4 個(gè)像素。由于低對(duì)比度測(cè)量結(jié)果存在“噪聲"現(xiàn)象，因此建議對(duì)多次掃描所得的測(cè)量值進(jìn)行平均計(jì)算。要仔細(xì)監(jiān)控毫安秒（mAs）的設(shè)置以及所采用的任何劑量調(diào)節(jié)和劑量減少方法，因?yàn)?X 射線曝光量增加時(shí)，光子通量會(huì)提高。在不同噪聲水平下所呈現(xiàn)的目標(biāo)大小可用于估算對(duì)比度細(xì)節(jié)曲線的信息。即所有目標(biāo)的對(duì)比度水平將保持一致。

下面的公式可與已發(fā)表的其他 CT 目標(biāo)檢測(cè)模型結(jié)合使用，將測(cè)量到的對(duì)比度和直徑轉(zhuǎn)換為其他估計(jì)的特定對(duì)比度和直徑。

（測(cè)量對(duì)比度）×（可辨別的最小直徑）= 常數(shù)

示例：0.3% 的對(duì)比度 × 3 毫米的直徑 @ 0.5% = 1.5