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JX3000高分辨率光譜儀：
JX3000 高分辨率光譜儀，光譜范圍覆蓋200-1100nm，專門針對各高分辨率需求的用戶而打造的行業(yè)產品，低分辨率可達0.07nm以下，特別是在可見近紅外部分，各種光譜范圍可選，客戶可提供需求進行參數適配，廣泛應用于532nm\785\1064nm激光監(jiān)測、光源監(jiān)測，透反射、光譜吸收、原子發(fā)射譜、輻照度測量、吸光度測量、顏色測量的微型光纖光譜儀。您可以選擇各類光學采樣附件，打造各種光譜測量系統。支持二次開發(fā)和SDK。
JX3000高分辨率光譜儀特點：
高分辨率，最小分辨率≤0.1nm，特別針對可見近紅外區(qū)域。
波長精度：≤±0.5nm，保證激光測量點的高波長精度和準確度。
內置光開關，一鍵采集暗電流，特別適合連續(xù)光源的光譜信號采集（可選）。
狹縫可更換，可選擇的波長范圍和分辨率。
主流的USB2.0和20Pin UART通訊接口。
專用多光路元件精密調節(jié)工位，匹配光譜教學場景（可選）。
應用領域：
激光監(jiān)測：適用于532nm，808nm，785nm，1064nm等激光器的監(jiān)測。
拉曼光譜和熒光光譜：適合基礎的拉曼和熒光光譜分析和生物樣本檢測。
透射/反射/吸收測量：可搭載多種光學附件，適用于材料分析、薄膜測量等。
在線組分分析：結合自動化系統，實現在線透射/反射/吸收波形分析。
規(guī)格參數：
機構圖：
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