需要對其新型薄膜產(chǎn)品進行關(guān)鍵電學性能測試：測試薄膜產(chǎn)品的體積電阻率、表面電阻。

（二）測試要求

● 檢測項目：體積電阻率、表面電阻

● 樣品規(guī)格：10μm/14μm/40μm薄膜

（三）解決方案

針對客戶超薄薄膜材料的電學性能檢測需求，需完成體積電阻率（ρv）及表面電阻（Rs）兩項核心指標測試。

1.體積電阻率（ρv）作為表征材料整體絕緣性能的核心參數(shù)，其數(shù)值直接決定了電子器件的漏電流與能耗。當測試超薄樣品時，需要使用大電極均勻加壓，避免局部擊穿。

2.表面電阻（Rs）作為表征材料表面導(dǎo)電特性的核心參數(shù)，其量值直接決定防靜電、電磁屏蔽等性能。在微米級薄膜材料測試中，易引發(fā)因電極接觸不良導(dǎo)致的數(shù)據(jù)波動。

為兼顧測試精度與效率，推薦采用TH2690系列飛安表/靜電計/高阻計+TH26090表面電阻率/體電阻率測試夾具的組合方案，其核心優(yōu)勢如下：

單機全功能

TH2690系列通過高度集成化設(shè)計，實現(xiàn)了"單機全功能測試"，擺脫對上位機的依賴，為微弱信號測量帶來革命性便捷體驗。

0.01fA電流分辨率

TH2690系列其最小電流分辨率0.01fA(10^-17A)，可滿足大部分場景的微弱電流測量需求，大大解決薄膜材料信號漂移問題。

數(shù)據(jù)分析處理能力

TH2690系列內(nèi)置±1000V電壓源，支持1mV步進式精密調(diào)節(jié)，可實現(xiàn)從1V到1000V寬范圍電壓的精確施加與動態(tài)控制，滿足高阻材料測試的電壓精度要求。