X射線(xiàn)熒光光譜(X-Ray Fluorescence, XRF),是一種利用 X 射線(xiàn)激發(fā)樣品中原子的內(nèi)層電子,并通過(guò)測(cè)量其發(fā)射出的特征 X 射線(xiàn)熒光來(lái)分析樣品元素組成的技術(shù)。它的基本過(guò)程可以為三步:①X射線(xiàn)照射樣品、②樣品中某些原子的內(nèi)層電子被激發(fā)出去留下空穴、③外層電子躍遷填B這個(gè)空穴,同時(shí)釋放出具有特征能量的X射線(xiàn)。不同元素的原子結(jié)構(gòu)不同,發(fā)射出的熒光 X 射線(xiàn)能量也不同。儀器通過(guò)識(shí)別這些特征能量,來(lái)判斷樣品中有哪些元素;再結(jié)合信號(hào)強(qiáng)度,進(jìn)一步分析各元素的大致含量。XRF 的核心邏輯并不是看形貌、看價(jià)態(tài),而是通過(guò)元素發(fā)出的“特征熒光信號(hào)",來(lái)識(shí)別樣品整體元素組成,就像是在“讀取材料的元素SFZ"。
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