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薄膜厚度測(cè)量?jī)x
KLA Filmetrics F50薄膜厚度測(cè)量?jī)x采用自動(dòng)化R-Theta平臺(tái)，支持標(biāo)準(zhǔn)和定制化樣品夾盤，最大樣品直徑達(dá)450毫米，能高效測(cè)繪薄膜厚度。該設(shè)備適...
型號(hào)： KLA Filme...
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/8/14 13:48:16
對(duì)比
KLA Filmetrics F50薄膜厚度測(cè)量?jī)xFilmetrics F50薄膜厚度測(cè)量?jī)xFilmetrics F50薄膜厚度測(cè)量?jī)x白光干涉測(cè)厚儀
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HMS-7000 霍爾效應(yīng)測(cè)試儀
HMS-7000 霍爾效應(yīng)測(cè)試儀用于測(cè)量半導(dǎo)體材料的關(guān)鍵電學(xué)參數(shù)，如載流子濃度和遷移率等。ECOPIA公司的HMS系列霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)以其高精度、小型化設(shè)計(jì)和簡(jiǎn)...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/8/15 15:03:57
對(duì)比
霍爾效應(yīng)測(cè)試儀霍爾效應(yīng)系統(tǒng)
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Gas Mixers氣體混配器
Gas Mixers氣體混配器用于 SEMI-KLEEN 和 EM-KLEEN 系列遠(yuǎn)程等離子源
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥100000更新時(shí)間：2025/6/24 15:53:07
對(duì)比
等離子清洗光刻膠灰化硅晶片清洗pie scientificTergeo
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SEMI-KLEEN UHV等離子體清洗機(jī)
關(guān)于SEMI-KLEEN UHV等離子體清洗機(jī)SEMI-KLEEN 和 EM-KLEEN 系列遠(yuǎn)程等離子體清洗機(jī)基于勞倫斯伯克利國(guó)家實(shí)驗(yàn)室開發(fā)的高效電感耦合等離...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥100000更新時(shí)間：2025/6/24 16:42:56
對(duì)比
等離子清洗光刻膠灰化硅晶片清洗pie scientificTergeo
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KLA Filmetrics F20臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
KLA Filmetrics F20臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng);經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的膜厚儀系列在幾秒鐘內(nèi)就能完成高精度的薄膜厚度測(cè)量。這些易于使用的儀器與智能軟件和一系列附件和...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/10 7:12:59
對(duì)比
Filmetrics F20Filmetrics F20白光干涉測(cè)厚儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
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KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測(cè)試儀
KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測(cè)試儀，方塊電阻測(cè)試儀可對(duì)金屬層厚度、薄膜電阻、薄膜電阻率、薄膜電導(dǎo)和薄膜電導(dǎo)率進(jìn)行測(cè)繪。R54是方塊電阻測(cè)量...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/8/14 14:00:11
對(duì)比
R50方塊電阻測(cè)試儀R50系列四探針電阻測(cè)試儀電阻測(cè)試儀方塊電阻測(cè)試四探針電阻測(cè)試
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KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀
KLA Nano Indenter? G200X納米壓痕儀是一種易于使用的納米級(jí)力學(xué)測(cè)試工具，可快速提供精確的定量分析結(jié)果。G200X系統(tǒng)可處理從硬質(zhì)涂層到軟質(zhì)...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/3/10 1:49:48
對(duì)比
KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀納米壓痕儀納米劃痕儀半導(dǎo)體劃痕壓痕測(cè)量
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KLA Candela® 8520表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)
KLA Candela? 8520表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)第二代集成式光致發(fā)光和表面檢測(cè)系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于對(duì)碳化硅和氮化鎵襯底上的外延缺陷進(jìn)行高級(jí)表征。采用統(tǒng)計(jì)制程控制(S...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/5/9 17:04:12
對(duì)比
KLACandela® 8520表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)晶圓表面檢測(cè)晶圓缺陷光學(xué)檢測(cè)晶圓光學(xué)檢測(cè)
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KLA Tencor® P-7探針式輪廓儀
KLA Tencor? P-7探針式輪廓儀為生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)節(jié)提供了從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。該系統(tǒng)支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行二維(2D)和...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/8/14 13:53:55
對(duì)比
kla探針式輪廓儀kla p-7p-7臺(tái)階儀
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霍爾效應(yīng)測(cè)試儀
霍爾效應(yīng)測(cè)試儀主要用于測(cè)量半導(dǎo)體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)、導(dǎo)電類型等重要參數(shù)，而這些參數(shù)是了解半導(dǎo)體材料電學(xué)特性必須預(yù)先掌控的，因此，此測(cè)試儀...
型號(hào)： HMS-3000
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/8/14 14:30:04
對(duì)比
霍爾效應(yīng)測(cè)試儀霍爾效應(yīng)系統(tǒng)
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薄膜應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng)
薄膜應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng)：在硅片等基板上附膜時(shí)，由于基板和薄膜的物理定數(shù)有異，產(chǎn)生應(yīng)力，進(jìn)而引起基板變形。由涂抹均勻的薄膜引起的變形的表現(xiàn)為基板的翹曲，而薄膜應(yīng)力測(cè)量裝...
型號(hào)： Toho FLX-...
所在地：國(guó)外
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/8/14 13:43:43
對(duì)比
薄膜測(cè)試薄膜應(yīng)力日本薄膜應(yīng)力薄膜應(yīng)力測(cè)試薄膜應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)
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WB-200 半自動(dòng)引線鍵合機(jī)
WB-200 半自動(dòng)引線鍵合機(jī)非常適合實(shí)驗(yàn)室研發(fā)，產(chǎn)品原型試產(chǎn)，產(chǎn)品評(píng)估，產(chǎn)品返修等在有限預(yù)算下，同時(shí)必須要保證高質(zhì)量鍵合的用戶。
型號(hào)：
所在地：國(guó)外
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/9/1 9:45:53
對(duì)比
鍵合機(jī)半自動(dòng)鍵合機(jī)Wire Bonder引線鍵合機(jī)
