引言

氟和氯是評價銅精礦質(zhì)量的關(guān)鍵因素，在冶煉加熱過程中會釋放出腐蝕性氣體，增加設(shè)備維護(hù)成本，降低工藝效率。高含量的氟氯元素也會降低銅制品的電導(dǎo)率，這是電子等行業(yè)的一個關(guān)鍵因素。此外，過量排放還給環(huán)境和監(jiān)管方面帶來了挑戰(zhàn)，控制氟和氯含量不僅冶煉的增本增效至關(guān)重要，而且對精銅的質(zhì)量也至關(guān)重要。

荷蘭TE(Trace Elemental )公司是高溫燃燒元素分析領(lǐng)域的專家，其產(chǎn)品線Xprep C-IC燃燒離子色譜前處理系統(tǒng)，結(jié)合Newton最先進(jìn)的固體自動進(jìn)樣器，開放的離子色譜接口，為礦物樣品中的特定鹵素分析提供解決方案。

原理

樣品被Newton全自動進(jìn)樣器引入到高溫燃燒爐，在不低于950°C的富氧高濕度條件下通過熱水解燃燒生成HF, HCl , ，燃燒后的氣體被帶入到預(yù)填充部分H?O?吸收液的餾分收集單元中吸收，最終以F-, Cl-形式存在。

•在線：Xprep C-IC 餾分收集器完全集成于燃燒系統(tǒng)一體，可通過餾分收集單元的多通閥直接將樣品加載到IC上，實現(xiàn)直接自動觸發(fā)聯(lián)機(jī)，開放的接口可與多品牌離子色譜聯(lián)機(jī)。

•離線：高通量燃燒吸收樣品存儲， 可獨(dú)立轉(zhuǎn)移至離子色譜使用

系統(tǒng)標(biāo)配的65位餾分收集單元，確保每次使用新的吸收管，消除了分析之間耗時沖洗吸收管的麻煩，并為潛在的再分析提供了樣品儲存的便利

測試結(jié)果

例圖

系統(tǒng)分析條件

結(jié)論

Xprep C-IC提供了的、可重復(fù)的和可靠的結(jié)果，為了確保符合EN 17813，樣品的磨粒徑須小于500µm，采用陶瓷系統(tǒng)，避免無機(jī)樣品對石英系統(tǒng)的損傷。通過Newton全自動固體進(jìn)樣器，使分析過程變得完全自動化，不需要人為的干預(yù)。Xprep C-IC與IC聯(lián)機(jī)下，燃燒的樣品被無縫注入IC進(jìn)行分析，從而實現(xiàn)了樣品處理和數(shù)據(jù)采集的并行程序，將自動沖洗系統(tǒng)，能夠重新運(yùn)行存儲樣本的餾分收集單元，提高了靈活性和效率。

特點(diǎn)：

•陶瓷系統(tǒng)，增加燃燒系統(tǒng)關(guān)鍵部件的使用壽命。

•簡單的樣品處理

•只需要超純水和過氧化氫，不需要危險化學(xué)品。

•開放接口，可連接到主流品牌的離子色譜IC進(jìn)行全

自動分析

•餾分收集單元也可作為離子色譜的進(jìn)樣器