日本yamada山田光學(xué)儀器高亮度鹵素光照燈管
YAMADA山田光學(xué)高亮度鹵素光照燈管?是日本進口的精密檢測光源設(shè)備,專為半導(dǎo)體、液晶面板等高精度制造領(lǐng)域的宏觀缺陷檢測設(shè)計,以?超高照度、冷鏡散熱、高顯色性?為核心優(yōu)勢,被譽為“火眼金睛”級質(zhì)量檢測利器。
核心性能亮點
?照度突破極限,識別微米級缺陷?
樣品表面照度可達 ?≥400,000 lx?,遠(yuǎn)超普通LED光源(通常<100,000 lx),可清晰識別0.2μm級劃痕、異物、CMP殘留等微觀瑕疵,甚至可替代部分精密探測儀進行初篩。
?真實色彩還原,避免誤判?
采用 ?3400K色溫? 鹵素?zé)?,顯色指數(shù)接近 ?Ra>95?,光線接近日光,能真實還原物體表面顏色與紋理,有效避免LED藍光偏色導(dǎo)致的檢測誤差。
?冷鏡熱管理,保護敏感材料?
配備特殊鍍膜“冷鏡”,可反射可見光并透射紅外線,將熱輻射影響降至傳統(tǒng)鋁鏡的 ?1/3?,實測樣品溫升≤2℃,防止OLED、硅片等熱敏感材料在檢測中發(fā)生形變或損傷。
?兩級調(diào)光設(shè)計,適配多場景檢測?
支持一鍵切換高/低照度模式,滿足初檢快速掃描與復(fù)檢精細(xì)觀察的不同需求,提升操作效率與視覺舒適度。
?精準(zhǔn)光斑控制,穿透高反射層干擾?
?YP-150I?:照射直徑φ30mm,工作距離140mm,適配6英寸晶圓
?YP-250I?:照射直徑φ60mm,工作距離220mm,適配8英寸晶圓
光斑均勻銳利,可穿透ITO鍍層、偏光片等高反射材料,提升檢測準(zhǔn)確性。
?工業(yè)級適配與穩(wěn)定運行?
YP-250I提供螺旋槳風(fēng)扇型與管道風(fēng)扇型兩種散熱結(jié)構(gòu),適配不同潔凈車間環(huán)境
搭配控制器可達IP65防護等級,適應(yīng)高粉塵、高濕度等嚴(yán)苛工業(yè)現(xiàn)場
典型應(yīng)用場景
半導(dǎo)體晶圓表面缺陷檢測(異物、劃痕、拋光不均)
液晶基板、Micro LED焊點宏觀檢查
玻璃、硅片、陶瓷等脆性材料的微損傷識別
精密光學(xué)元件、金屬拋光件的質(zhì)量管控
日本yamada山田光學(xué)儀器高亮度鹵素光照燈管
核心性能與技術(shù)亮點
?照度高達400,000 lx以上,識別0.2μm級缺陷?
YP-250I可在樣品表面實現(xiàn) ?≥400,000 lx? 的照度,遠(yuǎn)超普通LED光源(通常<100,000 lx),能清晰呈現(xiàn)微小劃痕、異物、CMP殘留等微觀瑕疵,甚至可替代部分精密探測儀進行初篩。
?高顯色性,真實還原表面細(xì)節(jié)?
采用 ?3400K色溫? 鹵素?zé)糇鳛楣庠?,顯色指數(shù)接近 ?Ra>95?,光線接近日光,色彩還原真實,有效避免LED藍光偏色導(dǎo)致的誤判,確保檢測結(jié)果客觀可靠。
?冷鏡熱管理技術(shù),保護熱敏感材料?
配備特殊鍍膜“冷鏡”,可反射可見光并透射紅外線,將熱輻射影響降至傳統(tǒng)鋁鏡的 ?1/3?,實測樣品溫升≤2℃,防止OLED、硅片等材料在檢測中發(fā)生形變或損傷。
?兩級調(diào)光設(shè)計,適配多階段檢測流程?
支持一鍵切換高/低照度模式,滿足初檢快速掃描與復(fù)檢精細(xì)觀察的不同需求,提升操作效率與視覺舒適度。
?大范圍均勻照明,適配8英寸晶圓檢測?
?照射直徑:φ60mm?
?工作距離:220mm?
光斑邊界銳利、照度均勻,特別適用于 ?8英寸半導(dǎo)體晶圓? 的整片宏觀檢查,并可穿透ITO鍍層、偏光片等高反射干擾層,提升檢測準(zhǔn)確性。
?工業(yè)級散熱與環(huán)境適配能力?
YP-250I提供 ?螺旋槳風(fēng)扇型? 與 ?管道風(fēng)扇型? 兩種散熱結(jié)構(gòu),可根據(jù)潔凈車間通風(fēng)系統(tǒng)靈活選配;整機防護等級可達 ?IP65?(搭配HPS-250控制器),適應(yīng)高粉塵、高濕度等嚴(yán)苛工業(yè)現(xiàn)場。
?關(guān)鍵電氣參數(shù)?
輸入電壓:AC100V / 220V(可選)
功率:約350W
燈泡型號:ELC24V250W(歐司朗等品牌)
燈泡壽命:約35小時(因高功率運行,屬正常范圍)
典型應(yīng)用場景
半導(dǎo)體晶圓表面缺陷檢測(異物、劃痕、拋光不均)
液晶基板、Micro LED焊點宏觀檢查
玻璃、硅片、陶瓷等脆性材料的微損傷識別
汽車零部件、精密模具、金屬拋光件的質(zhì)量管控
高亮度鹵素光源設(shè)備
高亮度鹵素光源設(shè)備是一種用于宏觀觀測的照明設(shè)備,用于檢測各種缺陷,如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾和最終表面的滑動,這些在半導(dǎo)體晶圓和液晶基板的加工過程中需要最多的人工。
概述
1. 樣品表面可被照亮超過400,000Lx。
2. 光源為鹵素?zé)?,色溫較高,光線不那么不均勻
,光線非常穩(wěn)定且銳利。
3. 使用冷鏡可將熱效應(yīng)降至傳統(tǒng)鋁制鏡面的三分
之一。
4. 兩級切換機制允許你一鍵切換
高光和低光觀測。
YP-150I:照度范圍φ30
YP-250I:照度范圍φ60
(YP-250I可選擇螺旋槳風(fēng)扇型和風(fēng)管風(fēng)扇型。 )

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