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日本進(jìn)口yamada山田鹵素?zé)艄芨吡炼裙鈱W(xué)儀器

YAMADA山田日本進(jìn)口高亮度鹵素光照燈管?是專為半導(dǎo)體、液晶面板等精密制造領(lǐng)域設(shè)計的宏觀檢測照明設(shè)備，憑借其?超高照度、冷鏡散熱、高顯色性?等核心技術(shù)，成為產(chǎn)線缺陷識別的關(guān)鍵工具。

核心性能亮點(diǎn)：

?照度突破極限?：

樣品表面照度可達(dá) ?400,000 lx 以上?，遠(yuǎn)超普通LED光源（通常<100,000 lx），可清晰識別0.2μm級微小劃痕、異物、CMP殘留等微觀缺陷。

?真實色彩還原?：

采用高色溫（約3400K）鹵素?zé)簦@色指數(shù)接近Ra≈100，光線穩(wěn)定銳利，避免LED藍(lán)光偏色導(dǎo)致的誤判，確保檢測結(jié)果真實可靠。

?冷鏡熱管理技術(shù)?：

特殊鍍膜“冷鏡”可反射可見光并透射紅外線，將熱量影響降至傳統(tǒng)鋁鏡的 ?1/3?，敏感材料溫升≤2℃，有效防止熱變形或損傷，特別適用于OLED、柔性屏等熱敏感產(chǎn)線。

?兩級調(diào)光設(shè)計?：

一鍵切換高/低照度模式，適配初檢與復(fù)檢不同場景，提升操作效率與觀察舒適度。

?精準(zhǔn)光斑控制?：

?YP-150I?：照射直徑φ30mm，工作距離140mm

?YP-250I?：照射直徑φ60mm，工作距離220mm

光斑均勻銳利，可穿透ITO鍍層、偏光片等高反射干擾層，提升檢測準(zhǔn)確性。

?工業(yè)級適配能力?：

YP-250I支持螺旋槳風(fēng)扇型與管道風(fēng)扇型兩種散熱結(jié)構(gòu)，滿足不同潔凈車間環(huán)境需求；搭配HPS-250控制器可達(dá)IP65防護(hù)等級，適應(yīng)嚴(yán)苛工業(yè)現(xiàn)場。

應(yīng)用場景覆蓋：

半導(dǎo)體晶圓表面缺陷檢測（異物、劃痕、拋光不均）

液晶基板、Micro LED焊點(diǎn)宏觀檢查

玻璃、硅片、金屬拋光件的微損傷識別

汽車零部件、精密模具的質(zhì)量管控

日本進(jìn)口yamada山田鹵素?zé)艄芨吡炼裙鈱W(xué)儀器

YAMADA山田光學(xué)YP-150I高亮度鹵素光照燈管?是日本進(jìn)口的精密檢測光源設(shè)備，專為半導(dǎo)體、液晶基板等高精度制造領(lǐng)域設(shè)計，適用于對光照強(qiáng)度、熱控制和色彩還原要求較高的宏觀缺陷檢測場景。

核心性能與技術(shù)亮點(diǎn)

?超高照度，識別微米級缺陷?

YP-150I可在樣品表面實現(xiàn) ?≥400,000 lx? 的照度，遠(yuǎn)超普通LED光源（通常<100,000 lx），能清晰呈現(xiàn)0.2μm級劃痕、異物、拋光不均等細(xì)微瑕疵，甚至可替代部分精密探測儀進(jìn)行初篩。

?高顯色性與穩(wěn)定光源輸出?

采用 ?3400K色溫? 的鹵素?zé)糇鳛楣庠矗@色指數(shù)接近 ?Ra>95?，光線接近日光，色彩還原真實，避免LED藍(lán)光偏色導(dǎo)致的誤判，確保檢測結(jié)果客觀可靠。

?冷鏡熱管理技術(shù)，保護(hù)敏感材料?

配備特殊鍍膜“冷鏡”，可反射可見光并透射紅外線，將熱輻射影響降至傳統(tǒng)鋁鏡的 ?1/3?，有效防止硅片、玻璃、OLED等熱敏感材料在檢測過程中發(fā)生形變或損傷。實測溫升≤2℃，保障檢測穩(wěn)定性。

?兩級調(diào)光設(shè)計，適配多階段檢測流程?

支持一鍵切換高/低照度模式，滿足初檢快速掃描與復(fù)檢精細(xì)觀察的不同需求，提升操作效率與視覺舒適度。

?精準(zhǔn)照明范圍，適配6英寸晶圓檢測?

?照射直徑：φ30mm?

?工作距離：140mm?

光斑邊界銳利、照度均勻，特別適用于 ?6英寸半導(dǎo)體晶圓? 的整片宏觀檢查，并可穿透ITO鍍層、偏光片等高反射干擾層，提升檢測準(zhǔn)確性。

?緊湊結(jié)構(gòu)與工業(yè)適配性?

外形尺寸：約100×245×116 mm

重量：約1.7 kg

冷卻方式：強(qiáng)制風(fēng)扇冷卻

輸入電壓：AC100V / 50-60Hz

功耗：約200W

燈泡型號：JCR15V150W（USHIO牛尾）

燈泡壽命：35–50小時（因高功率運(yùn)行，屬正常范圍）

典型應(yīng)用場景

半導(dǎo)體晶圓（6英寸）表面缺陷檢測（異物、劃痕、拋光不均）

液晶基板、ITO導(dǎo)電膜的宏觀檢查

玻璃、硅片、陶瓷等脆性材料的微損傷識別

精密光學(xué)元件、金屬拋光件的質(zhì)量管控

高亮度鹵素光源設(shè)備

高亮度鹵素光源設(shè)備是一種用于宏觀觀測的照明設(shè)備，用于檢測各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾和最終表面的滑動，這些在半導(dǎo)體晶圓和液晶基板的加工過程中需要最多的人工。

概述

1. 樣品表面可被照亮超過400,000Lx。

2. 光源為鹵素?zé)簦珳剌^高，光線不那么不均勻

，光線非常穩(wěn)定且銳利。

3. 使用冷鏡可將熱效應(yīng)降至傳統(tǒng)鋁制鏡面的三分

之一。

4. 兩級切換機(jī)制允許你一鍵切換

高光和低光觀測。

YP-150I：照度范圍φ30

YP-250I：照度范圍φ60

（YP-250I可選擇螺旋槳風(fēng)扇型和風(fēng)管風(fēng)扇型。 ）