Crossbeam 330 雙束電鏡 蔡司 Crossbeam 330 聚焦離子束掃描電鏡
- 公司名稱 卡爾蔡司(上海)管理有限公司
- 品牌 ZEISS/蔡司
- 型號 Crossbeam 330 雙束電鏡
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2025/12/17 14:02:27
- 訪問次數(shù) 1219
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高質量成像和全面樣品兼容性,可在 FIB 里獲得媲美前端 SEM 的成像體驗。
良好表征能力與高通量離子槍搭配,可以實現(xiàn)亞表面結構的快速截面樣品制備和高質量表征。
優(yōu)良的離子束性能確保輕松制備高質量的 TEM 薄片樣品;搭載最新開發(fā)的自動化流程和易用軟件。
可無縫融入蔡司跨尺度、多模態(tài)綜合表征解決方案。
深度聯(lián)動光學顯微鏡、X 射線顯微鏡等不同設備的獨特表征優(yōu)勢,自動化的實現(xiàn)從厘米尺度到納米尺度的 ROI 連續(xù)表征和多模態(tài)分析。
[ 產品特點 ]
ü “強” 表征:Gemini 系統(tǒng)加持,成像媲美高級場發(fā)射電鏡,樣品兼容性強
ü “快” 制備:搭配高通量離子槍,快速完成亞表面結構截面制備與表征
ü “易” TEM:自動化流程 + 易用軟件,簡化高質量 TEM 薄片制備
[ 應用領域 ]
ü 新材料
ü 金屬
ü 新能源
ü 地礦油氣
ü 電子半導體
ü 生物材料
納米線摻雜正極顆粒的直接成像 鋼鐵中位錯的直接表征與分析
TFT內部缺陷的表征與尺寸測量 纖維內部缺陷與夾雜的表征
半導體樣品的TEM結果 復雜陶瓷樣品的TEM結果

X射線顯微鏡和聚焦離子束掃描電鏡( XRM-FIB)關聯(lián)流程,實現(xiàn)電池污染物的定位、暴露、表征與分析




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