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| 面議 |
奧偉登
生產(chǎn)廠家
753
上海市
2025/12/3 14:43:19
產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
全新 EVIDENT LEXT OLS5500 激光共聚焦顯微鏡,將激光掃描顯微(LSM),白光干涉測量(WLI),聚焦變化顯微(FV)三大成像技術(shù)集于一身 —— 以超高的精度和可驗證的準(zhǔn)確度,捕捉每一處表面細(xì)節(jié)。
它正重新定義表面測量的可能性:
激光掃描顯微(LSM)與白光干涉測量(WLI)雙模式精度保障;
白光干涉測量模式下(WLI),檢測效率可最高提升40倍;
適配各類樣品類型與形狀,檢測更具信心。
專為不愿在準(zhǔn)確度與速度上妥協(xié)的研發(fā)(R&D)、質(zhì)量保證(QA)及質(zhì)量控制(QC)團(tuán)隊打造。
LEXT™ OLS5500是一款屢獲殊榮的成像平臺,融合了激光掃描顯微鏡(LSM)、白光干涉儀(WLI)和聚焦變化顯微鏡(FVM)技術(shù)。 該產(chǎn)品專為研發(fā)、質(zhì)量保證和質(zhì)量控制團(tuán)隊設(shè)計,可提供精確的表面細(xì)節(jié)、可追溯的精度以確保測量的可靠性,以及直觀的用戶體驗以簡化工作流程。 由精密光學(xué)、可驗證校準(zhǔn)和智能自動化驅(qū)動的可信數(shù)據(jù),幫助實驗室實現(xiàn)從最初發(fā)現(xiàn)到最終判定的無縫過渡。
OLS5500融合LSM、WLI和FVM三種成像技術(shù)于一體,在提供便捷操作體驗的同時,實現(xiàn)了較傳統(tǒng)激光共聚焦顯微鏡快40倍的檢測效率。它也是款為LSM與WLI測量結(jié)果提供準(zhǔn)確性與重復(fù)性*雙重保障的三維光學(xué)輪廓測量設(shè)備。
屢獲殊榮的 LEXT™ OLS5500融合了激光掃描顯微鏡(LSM)、白光干涉儀(WLI)和聚焦變化顯微鏡(FVM)三種技術(shù)于一體,確保清晰、準(zhǔn)確地測量樣品表面。
LSM: 橫向分辨率,精準(zhǔn)測量粗糙紋理、微觀結(jié)構(gòu)和陡峭斜面。
WLI: 納米級垂直精度,適合測量光滑表面、斜面和薄膜。
FVM: 從宏觀到微觀測量全覆蓋,適用于測量需要更廣視野的大面積或不規(guī)則區(qū)域。
多種測量方法互為補(bǔ)充—可為每一種表面提供合適的成像模式。 一套系統(tǒng)覆蓋從納米級到毫米級測量、從平坦區(qū)域到陡峭斜坡測量,生成全面、真實的表面數(shù)據(jù)。
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您訪問的EVIDENT LEXT OLS5500 激光共聚焦顯微鏡產(chǎn)品信息,由奧偉登光學(xué)科技(上海)有限公司自行發(fā)布提供,產(chǎn)品價格為面議,如您想了解更多關(guān)于EVIDENT LEXT OLS5500 激光共聚焦顯微鏡型號、參數(shù)、用途等信息,歡迎咨詢。
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