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多端口光器件IL PDL測試高速光功率測試平臺產(chǎn)品參數(shù)
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,綜合 |
多端口光器件IL PDL測試高速光功率測試平臺詳細(xì)信息
一.多端口光器件IL PDL測試高速光功率測試平臺產(chǎn)品概述
主機和模塊
多端口高速光功率測試平臺，支持光功率計模塊、偏振態(tài)發(fā)生器和分束模塊。主機有5個插槽，可根據(jù)需要自由選擇光功率計、偏振態(tài)發(fā)生器、分束模塊組合， 適用于密集波分復(fù)用（DWDM）、陣列波導(dǎo)光柵（AWG）、波長選擇開關(guān)（WSS）等多端口光器 件的插入損耗（IL）和偏振相關(guān)損耗（PDL）測試。 產(chǎn)品具有 LAN、HDMI 和 USB 接口，其中 LAN 接口能夠滿足各種程控和數(shù)據(jù)通信需要。
二.多端口光器件IL PDL測試高速光功率測試平臺主要特點
測試模塊
主機 5 個插槽支持不同功能模塊
采用 PCIE 通信，通信速率大于 100Msps
至快采樣時間 1μs
支持單機工作和局域網(wǎng)程控
擴展性高，主機支持級聯(lián)，通道數(shù) N≥144
大容量存儲，功率計模塊每通道支持至大 3200 萬個數(shù)據(jù)
功率計模塊高速測量模式下動態(tài)范圍為 70dB
三.多端口光器件IL、PDL測試高速光功率測試平臺技術(shù)規(guī)范
四.多端口光器件IL、PDL測試高速光功率測試平臺典型應(yīng)用
IL 測量接線示意圖 普通測試：光源輸出不經(jīng)過分束模塊。
高精度測試：光源輸出經(jīng)過分束模塊。分束模塊參考接口接光功率計參考通道，分束模 塊輸出接口接待測件輸入。
PDL/ILavg 測量接線示意圖 普通測試：偏振發(fā)生器輸出不經(jīng)過分束模塊。
高精度測試：偏振發(fā)生器輸出經(jīng)過分束模塊。分束模塊參考接口接光功率計參考通道， 分束模塊輸出接口接待測件輸入。
五.多端口光器件IL、PDL測試高速光功率測試平臺訂貨信息
1、主機
6337F：5 插槽
2、光功率計模塊
74600B-4137：4 通道光功率計
74600B-4137A：4 通道光功率計，帶一個模擬輸出口（可配置）
3、偏振態(tài)發(fā)生器
85210H-X1X2X3X4
X1X2：波長范圍，13：O-band（1260~1360nm），15：CL-band（1480~1620nm）
X3X4：接口類型，01：FC/UPC，02：FC/APC
4、分束模塊
74200X1-X2X3X4X5
X1：接口類型，A：FC/UPC，B：FC/APC
X2X3：光纖類型，SM：單模，PM：保偏
X4X5：分光比，01：90:10，02：95:5，03：97:3，04：99:1，05：80:20，06：50:50
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