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X射線熒光光譜儀應(yīng)用產(chǎn)品參數(shù)
| 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-30萬 | 能量分辨率 | 0.5cm-1eV |
| 行業(yè)專用類型 | 電子產(chǎn)品 | 儀器種類 | 臺(tái)式/落地式 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,建材/家具,電子/電池,汽車及零部件,綜合 |
X射線熒光光譜儀應(yīng)用詳細(xì)信息
X射線熒光光譜儀應(yīng)用
X射線熒光光譜儀應(yīng)用：根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，可以 測定元素含量。
近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得最多也。
大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。
優(yōu)點(diǎn)
1.分析速度快，測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，10-300秒就可以測部待測元素。
2.x射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體，粉末，液體及晶質(zhì)，非晶質(zhì)等物體的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系，但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化鄧現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著，波長變化用于化學(xué)的測定。
3.非破壞分析，在測定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)式樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重復(fù)性好。
4.X射線熒光光譜儀是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
5.分析精密高，含量測定已經(jīng)達(dá)到PPM級(jí)別。
6.制樣簡單，固體，粉末，液體樣品鄧都可以進(jìn)行分析。
缺點(diǎn)
1.定量分析需要標(biāo)樣
2.對(duì)輕元素的靈敏度要低一些。
3.容易受元素相互干擾和疊加峰影響
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