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馬爾文帕納科專注于材料表征領(lǐng)域。主營產(chǎn)品有激光粒度儀、納米粒度電位儀、噴霧粒度儀、在線粒度儀、粒度粒形分析儀、納米顆粒跟蹤分析儀、X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀、等溫滴定微量熱儀、差示掃描微量熱儀、分子互作儀、凝膠滲透色譜儀等
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Omega-Theta 晶面取向測定產(chǎn)品參數(shù)
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 單晶衍射儀 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,綜合 |
Omega-Theta 晶面取向測定詳細(xì)信息
Omega/Theta XRD 用于超快速晶體定向和搖擺曲線測量
10秒內(nèi)完成晶體取向測定
Omega/Theta XRD為測定晶面取向提供了良好的綜合精度和速度。Omega/Theta XRD可在短短 10 秒內(nèi)返回結(jié)果，具有從條形碼閱讀器到晶體堆疊支架的許多工藝附件，可容納重量達(dá)30kg、長度達(dá) 450mm 的一系列樣品。它是將測量好的取向轉(zhuǎn)移到加工工具的可靠合作伙伴。
精度：在偏角幅度和面內(nèi)方向上達(dá)到＜0.003°/＜0.03°的精度（1σ）
10秒內(nèi)完成晶體取向測定
以3D形式自動(dòng)評估完整晶格取向
用于研究和生產(chǎn)質(zhì)量的控制
晶體取向的方位設(shè)置和標(biāo)記
提供多種附件用于將取向轉(zhuǎn)移到其他工藝步驟
通過測角儀實(shí)現(xiàn)未知樣品的的掃描和定向
可使用搖擺曲線測量進(jìn)行晶體質(zhì)量評估
用戶友好、性價(jià)比高
樣品處理方便，操作簡單
用戶友好的高級(jí)軟件
能耗和運(yùn)行成本低
模塊化設(shè)計(jì)和靈活性
通過各種升級(jí)選項(xiàng)滿足未來需求
根據(jù)客戶要求為特殊應(yīng)用定制的解決方案
平邊和 V 槽的光學(xué)測量
關(guān)聯(lián)品牌
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移動(dòng)站：Omega-Theta 晶面取向測定
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