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J-RAS株式會(huì)社設(shè)立于2006年，主要事業(yè)內(nèi)容如下：◇可靠性測(cè)試裝置的制造及銷售電子化學(xué)等級(jí)測(cè)試、高壓絕緣可靠性測(cè)試設(shè)備的制造與銷售◇受托試驗(yàn)服務(wù)電子化學(xué)遷移相關(guān)的受托試驗(yàn)服務(wù)及咨詢
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J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置ECM-500系列產(chǎn)品參數(shù)
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材/家具,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置ECM-500系列詳細(xì)信息
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置ECM-500系列
絕緣抵抗測(cè)定器
型號(hào)：
ECM-500/40-n
ECM-500/100-n
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（BIAS VOLTAGE）,經(jīng)過長時(shí)間的測(cè)試（1～1000 小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ION MIGRATION）,并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。（ION MIGRATION TESTING） 適用規(guī)格：JPCA-ET01-2001
可在1v ~ 500v的寬外加電壓和CH個(gè)別電壓輸出下進(jìn)行各種樣品的測(cè)試
通過配備信道單獨(dú)計(jì)測(cè)電路進(jìn)行50msec/CH的高速掃描處理
用響應(yīng)速度低于100nsec的瞬時(shí)泄漏電流檢測(cè)電路，捕捉到泄漏觸摸現(xiàn)象
多達(dá)100ch的殼體小型輕量，不選擇場所設(shè)置，移動(dòng)也容易
利用倉門打開的接點(diǎn)進(jìn)行緊急停止或暫時(shí)停止的安全功能
采用不同CH的彩色電纜，減少焊接作業(yè)的負(fù)擔(dān)，防止出錯(cuò)。
簡單易用的軟件
J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置
用途
印刷電路板、焊錫、樹脂、絕緣材料等的遷移評(píng)價(jià)。
多達(dá)500v的外加電壓可滿足汽車電子相關(guān)廠商的測(cè)試要求。
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