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內(nèi)容聲明：
您訪問的納米掃描探針顯微鏡產(chǎn)品信息，由杭州葛蘭帕科技有限公司自行發(fā)布提供，產(chǎn)品價格為面議，如您想了解更多關于納米掃描探針顯微鏡型號、參數(shù)、用途等信息，歡迎咨詢。
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產(chǎn)品簡介
納米掃描探針顯微鏡產(chǎn)品參數(shù)
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
| 儀器種類 | 原子力顯微鏡 | 應用領域 | 食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,制藥/生物制藥 |
納米掃描探針顯微鏡詳細信息
納米掃描探針顯微鏡工作模式：
標準工作模式：輕敲模式(Vibration mode)，接觸模式 (Contact mode)，相位成像模式 (Phase imaging)，橫向力模式 (LFM)，力曲線測試（Force Curve），納米操控 （Nanomanipulation），納米刻蝕 （Nanolithography），力矩陣模式 （Force Mapping），摩擦力測試 （Friction Mode）
可選工作模式：導電原子力顯微鏡 （C-AFM），磁力顯微鏡（MFM），靜電力顯微鏡（EFM）,掃描電勢顯微鏡（SKPM），壓電力顯微鏡模式(PFM Mode)，液相模式 (Liquid Mode)
AFMWorkshop是專門從事設計和制造原子力顯微鏡的專業(yè)化公司 。公司創(chuàng)始人是有30年原子力顯微鏡經(jīng)驗的 Paul West博士，原子力顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。
納米掃描探針顯微鏡技術參數(shù)
掃描范圍：100 μm，50 μm，15μm
Z方向范圍：17 μm，7 μm
XY方向驅(qū)動分辨率：0.01 nm
Z方向驅(qū)動分辨率：0.03 nm
Z方向測量噪音水平：0.15 nm
樣品尺寸：直徑25mm
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