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高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱半導(dǎo)體芯片封裝產(chǎn)品參數(shù)
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,航空航天,制藥/生物制藥,汽車及零部件,電氣 |
高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱半導(dǎo)體芯片封裝詳細(xì)信息
高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱半導(dǎo)體芯片封裝
高低溫沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)需求及測試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗(yàn)室，產(chǎn)品在測試時是放置在試驗(yàn)室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機(jī)帶動提籃運(yùn)動來實(shí)現(xiàn)高低溫的切換，產(chǎn)品放在提籃里，是隨提籃一起移動的。
高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱半導(dǎo)體芯片封裝
高低溫沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn):
1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法;
2、GB/T2423.2-2001;
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N;
4. 軍標(biāo)GJB150.3-86;
5. 軍標(biāo)GJB150.4-86;
6. 軍標(biāo)GJB150.5-86;
7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);
8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);
9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn);
10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱--一箱式;
11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱--二箱式;
12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化;
10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;
11、GB/T 2423.22-2002溫度變化;
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則;
13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。
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