可靠性試驗進行介紹:
跌落試驗(
暴露因高低溫沖擊引誘的樣品缺陷
GB/T2423.8-1995
跌落測試機
)電性能參數(shù)測試:如果被測試樣品為
,參照附錄一進行參數(shù)測試。如果被測試樣品為
,參照附錄二進行參數(shù)測試。
)功能測試:電話,顯示、鈴聲、振動、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍牙、
卡以及其它未描述到的功能。
)結(jié)構(gòu)測試:殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合、天線、
、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)。
)外觀測試:噴涂、印刷、電鍍等,以及未描述到的外觀。
)內(nèi)存時鐘:樣機中存中存入
個電話和
條短信息,設(shè)置手機時鐘為當前日期時間。
測試方法:
) 樣機中存中存入
個電話和
條短信息,設(shè)置手機時鐘為當前日期時間。
)將樣機設(shè)置為開機插卡狀態(tài),對手機進行
個面
的自由跌落實驗,每個面的跌落次數(shù)為
次,每個面跌落面都要對手機的外觀、結(jié)構(gòu)、內(nèi)存、時間和功能進行檢查。
)跌落順序為:
)跌落過程中,對于翻蓋手機,應(yīng)將一半樣品打開到使用位置,一半樣品閉合為初始狀態(tài);對于滑蓋手機應(yīng)將一半樣品合上滑蓋,一半樣品將滑蓋打開到上限位置。
)若樣品數(shù)量為奇數(shù),則多的一臺打開翻蓋或滑開滑蓋。
)測試條件:跌落高度
,
厚的大理石地板。(對于
手機,根據(jù)所屬公司質(zhì)量部門的建議可調(diào)整為跌落高度為
手機外觀、結(jié)構(gòu)、功能及內(nèi)存時間無異常。
)參數(shù)測試:與綜測儀連接進行參數(shù)測試,電性能符合測試要求。
)功能檢查:能正常電話、顯示、振動、
、揚聲器、受話器、回聲、按鍵、拍照、充電功能正常以及其它未描述到的功能均無異常。
)結(jié)構(gòu)檢查:裝飾件、
及
等無脫落,殼體卡鉤無脫出、斷裂;
無破裂;天線無脫出、脫落;轉(zhuǎn)軸無松動、錯位、脫出或斷裂;滑蓋無松動、脫出、斷裂、晃動無異響,
無破裂、脫落以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象;
)外觀檢查:殼體表面無明顯掉漆,無裂紋、破損、沖擊痕以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象
)樣品內(nèi)存:時鐘無異常(內(nèi)存無丟失、時鐘無混亂、復(fù)位、超前、滯后等;
)備注:電池
電池蓋脫落、關(guān)機及掉卡等、如重啟無異常,不記錄為有問題。
重復(fù)跌落測試(
Micro-Drop Test
)
測試環(huán)境:
20~25
測試目的:
驗證樣品重復(fù)跌落的可靠性
桌面跌落機
不少于
臺樣機
)參數(shù)測試:如果被測試樣品為
,參照附錄一進行參數(shù)測試。如果被測試樣品為
,參照附錄二進行參數(shù)測試
)功能測試:電話、顯示、鈴聲、振動、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍牙、
卡以及其它未描述到的功能
)結(jié)構(gòu)測試:殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合、天線、
、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)
)外觀測試:噴涂、印刷、電鍍,以及其它未描述到的外觀;
)內(nèi)存時鐘:存入
個電話和
條短信息,設(shè)置手機時鐘為當前日期時間
測試方法:
)在手機中預(yù)存入
個電話和
條短信息,設(shè)置手機時鐘為當前日期時間。
)將樣機設(shè)置為開機狀態(tài),插入測試卡,進行
次,第
次對樣品進行功能、結(jié)構(gòu)、外觀、內(nèi)存及時間的檢查。
)跌落速率為:
次
分鐘。
)跌落高度:
。
)跌落時一半樣品跌正面,一半樣品跌背面。
試驗標準:
重復(fù)跌落
50,000
次后,對樣品進行如下檢查
)參數(shù)測試:可與綜測儀建立連接進行參數(shù)測試,手機參數(shù)應(yīng)符合測試要求
)功能檢查:能正常電話、顯示、振動、
、揚聲器、受話器、回音、按鍵、指示燈、拍照、充電等功能無異常,無關(guān)機、掉卡現(xiàn)象以及其它未描述到的功能均正常。
)結(jié)構(gòu)檢查:裝飾件、
及
等無脫落,殼體、卡鉤無脫出、斷裂;
無破裂;天線無脫出、脫落;轉(zhuǎn)軸無松動、錯位、脫出或斷裂;滑蓋無松動、脫出、斷裂;晃動無異響;
無破裂、脫落以及其他與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。
)外觀檢查:殼體表面無明顯掉漆、無裂紋、破損、沖擊痕以及其他與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。
)樣品內(nèi)存:時鐘無異常(內(nèi)存無丟失;時鐘無混亂、復(fù)位、超前或滯后等);
滾筒跌落測試(
Free Fall Test
)
測試環(huán)境:
室溫(
20-25
℃)
測試目的:
驗證手機疲勞跌落的可靠性
GB/T 2423.8-1995
IEC 68-2-32:1990
滾筒跌落測試機
不少于
臺
1
)參數(shù)測試:如果被測試樣品為
,參照附錄一進行參數(shù)測試。如果被測試樣品為
,參照附錄二進行參數(shù)測試。
)功能測試:電話,顯示、鈴聲、振動、按鍵、收話器、受話器、回音、指示燈、拍照、充電、藍牙、
卡以及其它未描述到的功能。
)結(jié)構(gòu)測試:殼體配合、結(jié)構(gòu)件配合、天線、
、顯示屏、裝飾件以及其它未描述到的結(jié)構(gòu)。
)外觀測試:噴涂、印刷、電鍍等,以及未描述到的外觀。
)內(nèi)存時鐘:樣機中存中存入
個電話和
條短信息,設(shè)置手機時鐘為當前日期時間。
測試方法:
1
)將樣機設(shè)置為開機不插卡狀態(tài),樣機中存入
個電話和
條短信息,設(shè)置手機時鐘為當前日期時間。
)將樣品放入滾筒跌落試驗機,進行高度為
的
次隨機跌落測試。
)每
次對樣品進行功能與結(jié)構(gòu)檢查,每
次進行電性能檢查。
)對于翻蓋手機,應(yīng)將一半樣品打開到使用位置,一半樣品閉合為初始狀態(tài);對于滑蓋手機應(yīng)將一半樣品合上滑蓋,一半樣品將滑蓋打開到上限位置。
測試標準:
手機外觀、結(jié)構(gòu)、功能及內(nèi)存時間無異常。
1
)參數(shù)測試:樣品電性能測試合格。
)功能檢查:能正常電話、顯示、振動、
、揚聲器、受話器、回聲、按鍵、拍照、充電功能正常以及其它未描述到的功能均無異常。
)結(jié)構(gòu)檢查:裝飾件、
及
等無脫落,殼體卡鉤無脫出、斷裂;
無破裂;天線無脫出、脫落;轉(zhuǎn)軸無松動、錯位、脫出或斷裂;滑蓋無松動、脫出、斷裂、晃動無異響,
無破裂、脫落以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。
4
)外觀檢查:殼體表面無明顯掉漆,無裂紋、破損、沖擊痕以及其它與測試前狀態(tài)不一致的現(xiàn)象。
)樣品內(nèi)存:時鐘無異常(內(nèi)存無丟失、時鐘無混亂、復(fù)位、超前、滯后等)
)備注:電池
電池蓋脫落、關(guān)機及掉卡等、如重啟無異常,不記錄為有問題
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