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XOS是*的元素分析設備和關鍵性應用材料生產商，X射線光學技術DCC®,針對不同的客戶和應用提供特定的元素分析解決方案。
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美國XOS樣品膜產品參數
| 供貨周期 | 現貨 | 規(guī)格 | 100片/盒 |
| 貨號 | 200335-01 | 應用領域 | 環(huán)保,化工,農林牧漁,石油,能源 |
| 主要用途 | 硫含量分析檢測 | 樣品膜厚度 | 3.6um |
美國XOS樣品膜詳細信息
美國XOS樣品膜200335-01
Mylar 樣品薄膜 - （100/盒）
訂貨號：200335-01 （ 200335-02 200335-03 200335-04）
薄膜厚度：3.6um
SpectroMembrane@ XRFThin-Film Sample Support Window Carrier Frames
Thin-Film Sample SupportCarrier Frames consist of a thin-film sample support substance attached to aframe that serves as a carrier. In affixing a thin-film substance to an XRF SampleCup, the thin-film material is not directly handled and a contaminationpossibility is completely eliminated. Nearing or at the completion ofattachment, the thin-film automatically detaches from the carrier frame leavinga taut wrinkle-free sample support window.
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移動站：美國XOS樣品膜
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